[实用新型]一种用于微波器件的检测装置

权利要求书

1.一种用于微波器件的检测装置，其特征在于，包括装置主体，所述装置主体包括测试箱，所述测试箱上部设有开口，所述开口上设有密封盖，所述密封盖通过转轴与所述测试箱连接，所述测试箱底部设有检测台，所述检测台上设有夹具，所述夹具包括第一夹块和第二夹块，所述第一夹块和第二夹块相对设置，且所述第一夹块和第二夹块上均设有相互对应的第一方形缺口，两个所述第一方形缺口相互配合形成第一容纳区，所述第一夹块和第二夹块上还设有相互对应的第二方形缺口，所述第二方形缺口与所述第一方形缺口连接，所述第二方形缺口长度小于所述第一方形缺口的长度，且所述第二方形缺口位于所述第一方形缺口的下方，两个所述第二方形缺口相互配合形成第二容纳区，所述测试箱的侧壁上设有通孔，所述通孔内设有测试探头，所述测试探头活动设于所述通孔内，所述测试探头外接测试电路，所述装置主体还包括测试仪，所述测试仪与所述测试探头电性连接。

2.根据权利要求1所述的用于微波器件的检测装置，其特征在于，所述检测台上设有滑槽，所述滑槽有两个，且所述两个滑槽相互平行，所述第一夹块和第二夹块设于所述滑槽上，且所述第一夹块和第二夹块底部设有与所述滑槽相配的滑轮，所述第一夹块和第二夹块上还设有限位螺栓。

3.根据权利要求1所述的用于微波器件的检测装置，其特征在于，所述测试探头有四个，且所述四个测试探头分别位于测试箱的四个侧壁上。

4.根据权利要求1所述的用于微波器件的检测装置，其特征在于，所述通孔上设有夹紧装置。

5.根据权利要求1所述的用于微波器件的检测装置，其特征在于，所述第二方形缺口位于所述第一方形缺口的中间。

6.根据权利要求1所述的用于微波器件的检测装置，其特征在于，所述装置主体还包括显示屏，所述显示屏和所述测试仪电性连接。