[实用新型]一种紫外发光二极管芯片的外延结构有效

专利信息
申请号: 201821088833.8 申请日: 2018-07-10
公开(公告)号: CN208637450U 公开(公告)日: 2019-03-22
发明(设计)人: 武良文 申请(专利权)人: 江西兆驰半导体有限公司
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/14;H01L33/00;H01L33/32
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 330000 江西省南昌市南昌高新技*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 实用新型公开了一种紫外发光二极管芯片的外延结构,包括衬底以及位于衬底上的AlN缓冲层、非掺杂AlN层、超晶格层、发光层、电子阻挡层、空穴导电层;其中:所述超晶格层为nAlxGa1‑xN层和AlyGa1‑yN层周期性交替堆叠形成。本实用新型的优点在于:通过采用nAlxGa1‑xN/AlyGa1‑yN超晶格层代替传统的单层nAlGaN层,从而将电子导电的传输通道横向分割成为高电导率的nAlxGa1‑xN层和低电导率的AlyGa1‑yN层,并在nAlxGa1‑xN层中创造高电子密度的二维电子气(使nAlxGa1‑xN层的带隙宽度小于AlyGa1‑yN层)。
搜索关键词: 超晶格层 紫外发光二极管芯片 本实用新型 外延结构 衬底 空穴 电子阻挡层 二维电子气 周期性交替 传输通道 低电导率 高电导率 横向分割 传统的 导电层 发光层 非掺杂 带隙 单层 导电 堆叠
【主权项】:
1.一种紫外发光二极管芯片的外延结构,包括衬底(101)以及位于衬底(101)上的AlN缓冲层(102)、非掺杂AlN层(103)、超晶格层(104)、MQW发光层(105)、电子阻挡层(106)、空穴导电层(107);其特征在于:所述超晶格层(104)为nAlxGa1‑xN层(1041)和AlyGa1‑yN层(1042)周期性交替堆叠形成。
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