[实用新型]一种用于大米外观品质检测的整列装置有效
| 申请号： | 201820977148.4 | 申请日： | 2018-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN208536893U | 公开（公告）日： | 2019-02-22 |
| 发明（设计）人： | 沈晓芳;张玲;庞月红;杨成 | 申请（专利权）人： | 江南大学 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人： | 张勇 |
| 地址： | 214000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提出了一种用于大米外观品质检测的整列装置，置包括孔板和扫描底板，所述孔板与扫描底板嵌合良好，本实用新型对现有采集图像有益，孔板的孔洞大小设计能够保证米粒能掉入孔中，且每个孔中保证基本是一粒，避免了两颗米竖在一个孔板里的情况，扫描底板光学性能优良，且与孔板贴合良好，使米粒嵌入孔板而落于扫描底板上。本实用新型相对现有整列装置更加实用，操作方便，效率高，便于采集清晰的单颗米粒的大米外观图像，便于图像处理，以提高大米外观品质检测准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 孔板 扫描底板 外观品质检测 本实用新型 整列装置 米粒 大米 孔洞 采集图像 光学性能 图像处理 外观图像 嵌入孔 准确率 嵌合 入孔 贴合 采集 保证 清晰 | ||
【主权项】：
1.一种用于大米外观品质检测的整列装置，其特征在于：包括孔板和嵌合在孔板下方的扫描底板，所述孔板上设有若干个孔洞，所述孔洞呈长圆形且包括上孔和下孔，所述上孔的长为8.5mm～10.5mm、宽为3mm～4mm、高为0.8mm～1.5mm，所述下孔的长和宽均比上孔少0.5mm～1.5mm，所述下孔的高比上孔多0.5mm～1.5mm；或者，所述上孔的长为7mm～9mm、宽为4mm～5mm、高为0.8mm～1.5mm，所述下孔的长和宽均比上孔少0.5mm～1.5mm，所述下孔的高比上孔多0.5mm～1.5mm。
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