[实用新型]一种用于大米外观品质检测的整列装置

说明书

本实用新型提出了一种用于大米外观品质检测的整列装置，置包括孔板和扫描底板，所述孔板与扫描底板嵌合良好，本实用新型对现有采集图像有益，孔板的孔洞大小设计能够保证米粒能掉入孔中，且每个孔中保证基本是一粒，避免了两颗米竖在一个孔板里的情况，扫描底板光学性能优良，且与孔板贴合良好，使米粒嵌入孔板而落于扫描底板上。本实用新型相对现有整列装置更加实用，操作方便，效率高，便于采集清晰的单颗米粒的大米外观图像，便于图像处理，以提高大米外观品质检测准确率。

技术领域

本实用新型属于粮食检测技术领域，具体涉及一种用于大米外观品质检测的整列装置。

背景技术

大米外观检测是大米品质检测的一项重要内容。传统的大米外观品质检测方法主要是人工检测，这种检测方法局限在于完全依靠目测，分类准确率不高，主观性强，效率不高，随意性大，误差较大。采用计算机图像处理技术对大米外观品质进行检测分析，具有快速便捷、客观性强、结果准确等优势。而采集图像的米粒粘结程度对图像处理有较大影响，因此需要借助整列装置来分离米粒。

目前市面上的整列装置，包括玻璃板和嵌合在玻璃板四周框架上的孔板，孔板通常采用塑料材质，形变程度较大，与框架的嵌合度不好，容易翘起，使用时，需要双人配合，一人用双手捏持住孔板与玻璃板，利用拇指和四指将孔板嵌合在框架内，使孔板与玻璃板贴合，力度稍有不够，孔板与玻璃板贴合不好就会留有空隙，米粒便会在孔板下方窜动，不能保证米粒的良好分离，然后另一人向孔板上洒米，才能完成米粒整列的工序。而且在长期使用过程中，孔板上下面容易磨损，磨损后，会造成孔板与玻璃板之间的贴合度不好，也会出现米粒在孔板下方窜动的情况。另外，孔板上供米粒下漏的孔洞容易出现两颗米竖在同一个孔洞里的情况，需要手工分离米粒，操作不够便捷。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于大米外观品质检测的整列装置，通过将孔板上的孔洞设计成上大下小结构，避免了两颗米竖在同一个孔洞里的情况，使分离过程更加方便。

本实用新型提出的一种用于大米外观品质检测的整列装置，包括孔板和嵌合在孔板下方的扫描底板，所述孔板上设有若干个孔洞，所述孔洞呈长圆形且包括上孔和下孔，根据LS/T6116-2017《大米粒型分类判定》，针对长粒米，所述上孔的长为8.5mm～10.5mm、宽为3mm～4mm、高为0.8mm～1.5mm，所述下孔的长和宽均比上孔少0.5mm～1.5mm，下孔的高比上孔多0.5mm～1.5mm；针对中短粒米，所述上孔的长为7mm～9mm、宽为4mm～5mm、高为0.8mm～1.5mm，所述下孔的长和宽均比上孔少0.5mm～1.5mm，下孔的高比上孔多0.5mm～1.5mm。

进一步的，各所述孔洞之间的横向间隙是0.8mm～1.8mm，纵向间隙是0.8mm～1.8mm。

进一步的，所述孔板的材料为金属或其他硬质材料。

进一步的，所述孔板的材料为铝合金。

进一步的，所述扫描底板的材质为浮法玻璃。

进一步的，所述孔板上下面的四周均设有凸起，所述扫描底板嵌合所述凸起的内侧。

进一步的，所述凸起的高度为2-3mm。

进一步的，所述扫描底板呈矩形，其四个角均设有第一倒角。

进一步的，所述凸起的内侧的四个角设有与所述第一倒角形状配合的第二倒角。

进一步的，所述孔板的两侧设有把手。