[实用新型]一种光分路器生产用光功率测试探头

摘要

本实用新型一种光分路器生产用光功率测试探头，包括基座，在基座内设置有安装腔，PIN光电二极管安装在安装腔内且PIN光电二极管的探头卡设在基座的测试接收端的测试卡口内，PIN光电二极管的插口外露于基座的测试传输端；在基座的测试接收端设置有卡槽，卡槽与测试卡口相通，可见光滤波片安装在卡槽内并将测试卡口覆盖。而利用光功率测试探头的测试系统，包括光功率主机、数据线、光功率测试探头、光源、光源线、光分路器；在PIN光电二极管的外侧增加可见光滤波片，减少测试过程中可见光对测试参数的影响，增大PIN光电二极管的感光面积，测试过程中对半成品插入损耗合格范围进行测试，增加测试效率。

主权项

1.一种光分路器生产用光功率测试探头，其特征在于：包括基座（3），在基座（3）内设置有安装腔（3‑1），PIN光电二极管（5）安装在安装腔（3‑1）内且PIN光电二极管（5）的探头卡设在基座（3）的测试接收端的测试卡口（3‑2）内，PIN光电二极管（5）的插口外露于基座（3）的测试传输端；在基座（3）的测试接收端设置有卡槽（3‑3），卡槽（3‑3）与测试卡口（3‑2）相通，可见光滤波片（4）安装在卡槽（3‑3）内并将测试卡口（3‑2）覆盖。