[实用新型]一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备

摘要

本实用新型半导体封装集成块检测涉及附属装置的技术领域，特别是涉及一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备；包括放置箱、上放置板、下放置板和四组支架，放置箱内部设置有放置腔，放置箱右侧连通设置有取放口，并在取放口处设置有挡盖，放置箱前侧壁设置有盛放箱，盛放箱内部设置有盛放腔，盛放箱顶端连通设置有盛放口；还包括八组螺纹管和八组螺纹杆，下放置板顶端与放置腔内底侧壁的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有放置槽，并在八组放置槽内均设置有滚珠轴承和限位片；还包括推板、推杆和推块；挡盖外侧轴连接有支撑杆，并在支撑杆的另一端设置有吸铁石片，放置箱顶端设置有铁片，挡盖左端下方与放置箱右侧下方分别设置有吸铁石块和铁块。

主权项

1.一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，包括放置箱（1）、上放置板（2）、下放置板（3）和四组支架，放置箱（1）内部设置有放置腔，放置箱（1）右侧连通设置有取放口，并在取放口处设置有挡盖（4），上放置板（2）和下放置板（3）均安装在放置腔内部，放置箱（1）前侧壁设置有盛放箱（5），盛放箱（5）内部设置有盛放腔，盛放箱（5）顶端连通设置有盛放口；其特征在于，还包括八组螺纹管（6）和八组螺纹杆（7），下放置板（3）顶端与放置腔内底侧壁的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有放置槽，并在八组放置槽内均设置有滚珠轴承和限位片，八组螺纹管（6）的底端分别插入至八组滚珠轴承内部并分别与八组限位片连接，八组螺纹杆（7）底端分别插入并螺装至八组螺纹管（6）顶端内部，八组螺纹杆（7）的顶端均与上放置板（2）底端或下放置板（3）顶端连接；还包括推板（8）、推杆（9）和推块（10），推块（10）位于盛放腔内部，推杆（9）顶端与推块（10）底端连接，推杆（9）底端穿过盛放箱（5）底侧壁并伸出至盛放箱（5）下方与推板（8）连接，推块（10）顶端设置有十字型分隔板（25），十字型分隔板（25）位于盛放腔内部；挡盖（4）左端上方与放置箱（1）右侧上方铰接，挡盖（4）外侧轴连接有支撑杆（11），并在支撑杆（11）的另一端设置有吸铁石片（12），放置箱（1）顶端设置有铁片（13），吸铁石片（12）与铁片（13）吸附，挡盖（4）左端下方与放置箱（1）右侧下方分别设置有吸铁石块（14）和铁块（15），吸铁石块（14）与铁块（15）吸附。