[实用新型]一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备

权利要求书

1.一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，包括放置箱（1）、上放置板（2）、下放置板（3）和四组支架，放置箱（1）内部设置有放置腔，放置箱（1）右侧连通设置有取放口，并在取放口处设置有挡盖（4），上放置板（2）和下放置板（3）均安装在放置腔内部，放置箱（1）前侧壁设置有盛放箱（5），盛放箱（5）内部设置有盛放腔，盛放箱（5）顶端连通设置有盛放口；其特征在于，还包括八组螺纹管（6）和八组螺纹杆（7），下放置板（3）顶端与放置腔内底侧壁的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有放置槽，并在八组放置槽内均设置有滚珠轴承和限位片，八组螺纹管（6）的底端分别插入至八组滚珠轴承内部并分别与八组限位片连接，八组螺纹杆（7）底端分别插入并螺装至八组螺纹管（6）顶端内部，八组螺纹杆（7）的顶端均与上放置板（2）底端或下放置板（3）顶端连接；还包括推板（8）、推杆（9）和推块（10），推块（10）位于盛放腔内部，推杆（9）顶端与推块（10）底端连接，推杆（9）底端穿过盛放箱（5）底侧壁并伸出至盛放箱（5）下方与推板（8）连接，推块（10）顶端设置有十字型分隔板（25），十字型分隔板（25）位于盛放腔内部；挡盖（4）左端上方与放置箱（1）右侧上方铰接，挡盖（4）外侧轴连接有支撑杆（11），并在支撑杆（11）的另一端设置有吸铁石片（12），放置箱（1）顶端设置有铁片（13），吸铁石片（12）与铁片（13）吸附，挡盖（4）左端下方与放置箱（1）右侧下方分别设置有吸铁石块（14）和铁块（15），吸铁石块（14）与铁块（15）吸附。

2.如权利要求1所述的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，其特征在于，还包括两组上支撑块、两组挤压弹簧（16）和两组下支撑块，两组上支撑块分别安装在盛放箱（5）底端左侧和右侧，两组挤压弹簧（16）的顶端分别与两组上支撑块底端连接，两组挤压弹簧（16）的底端分别与两组下支撑块顶端连接，两组下支撑块均安装在推板（8）顶端。

3.如权利要求2所述的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，其特征在于，上放置板（2）顶端、下放置板（3）顶端或放置腔内底侧壁横向设置有滑槽，还包括三组滑板（17），三组滑板（17）分别安装在三组滑槽处，且三组滑板（17）分别可相对三组滑槽横向滑动，且三组滑板（17）顶端均设置有防滑突起层（18）。

4.如权利要求3所述的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，其特征在于，四组支架均包括气缸（19）、伸缩杆（20）、上支撑柱、支撑弹簧（21）、下支撑柱和滚轮（22），四组伸缩杆（20）的顶端分别安装在放置箱（1）底端左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，四组伸缩杆（20）的底端分别安装在四组气缸（19）的顶部输出端，四组上支撑柱分别安装在四组气缸（19）的下方，四组支撑弹簧（21）的一端分别与四组上支撑柱连接，四组支撑弹簧（21）的另一端分别与四组下支撑柱连接，四组滚轮（22）分别安装在四组下支撑柱的下方。

5.如权利要求4所述的一种半导体封装集成块分类检测用辅助设备，其特征在于，四组气缸（19）外侧均设置有调节螺纹，还包括四组固定装置，四组固定装置均包括滑架（23）、四组支腿和四组吸盘（24），四组支腿分别安装在滑架（23）侧壁左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，四组吸盘（24）分别安装在四组支腿的下方，四组滑架（23）分别螺装四组气缸（19）外侧。