[实用新型]一种芯片保护环有效
申请号: | 201820201404.0 | 申请日: | 2018-02-06 |
公开(公告)号: | CN207800607U | 公开(公告)日: | 2018-08-31 |
发明(设计)人: | 赵鹏辉;王立芳 | 申请(专利权)人: | 华大半导体有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L23/00 |
代理公司: | 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31313 | 代理人: | 林高锋;李镝的 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本实用新型涉及一种基于深亚微米CMOS工艺的低成本片上芯片保护环,所述芯片保护环包括设置在衬底之上的多层金属层、通孔层和插塞层;以及设置在衬底之内的N阱层、N型注入区层和有源区层,所述N阱层的宽度即为芯片保护环的宽度。本实用新型的有益效果在于把芯片保护环的每边宽度降低到3‑4微米,在不影响芯片性能的前提下减小了芯片面积,提高了芯片产品的市场竞争力。 | ||
搜索关键词: | 芯片保护环 本实用新型 衬底 多层金属层 市场竞争力 片上芯片 芯片产品 影响芯片 插塞层 低成本 通孔层 源区层 减小 芯片 | ||
【主权项】:
1.一种芯片保护环,所述芯片保护环从上到下包括设置在衬底上的间隔层叠分布的至少两层金属层、设置在金属层之间的至少一层通孔层和设置在最底部的金属层下方的插塞层;以及设置在衬底之内的N阱层、N型注入区层和有源区层;其中所述至少一层通孔层与所述至少两层金属层互连;其中所述插塞层从最底部的金属层下表面延伸到所述衬底上表面;其中所述N阱层从所述衬底上表面延伸到所述衬底之内的第一深度;其中所述N型注入区层从所述衬底上表面延伸到所述N阱层之内的第二深度;其中所述有源区层从所述衬底上表面延伸到所述N型注入区层之内的第三深度;其中所述第一深度大于第二深度,且所述第二深度大于第三深度;以及其中所述插塞层的下表面直接接触所述有源区层的上表面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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