[实用新型]集成电路测试载板有效
申请号: | 201820099606.9 | 申请日: | 2018-01-21 |
公开(公告)号: | CN207993805U | 公开(公告)日: | 2018-10-19 |
发明(设计)人: | 袁根琦 | 申请(专利权)人: | 天津简彩信息科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300000 天津市西*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型公开了集成电路测试载板,包括测试载板本体和螺纹盖,所述测试载板本体的顶部设置有接口,所述接口为圆柱体状结构,且测试载板本体的顶部设置有固定螺纹座,所述固定螺纹座为顶部和底部贯通的圆柱体状结构,且固定螺纹座包裹接口设置,所述固定螺纹座的外壁上设置有外螺纹结构,所述接口的顶部接触设置有接触垫,所述接触垫呈圆台状设置。本实用新型中,使用者不仅让接触垫的更换和维修更加方便,还能使接触垫在不使用时关闭挡板,避免灰尘污染接触垫,减少接触垫和空气接触的时间,增加接触垫的使用寿命,本实用新型结构新颖,解决了以往测试载板接触垫易氧化和更换维修不便的问题,实用性强,易于推广。 | ||
搜索关键词: | 接触垫 测试载板 固定螺纹 集成电路测试 圆柱体状结构 本实用新型 顶部设置 外螺纹结构 挡板 更换维修 灰尘污染 接触设置 接口设置 空气接触 使用寿命 螺纹盖 易氧化 圆台状 外壁 载板 贯通 维修 | ||
【主权项】:
1.集成电路测试载板,包括测试载板本体(1)和螺纹盖(7),其特征在于,所述测试载板本体(1)的顶部设置有接口(2),所述接口(2)为圆柱体状结构,且测试载板本体(1)的顶部设置有固定螺纹座(3),所述固定螺纹座(3)为顶部和底部贯通的圆柱体状结构,且固定螺纹座(3)包裹接口(2)设置,所述固定螺纹座(3)的外壁上设置有外螺纹结构(4),所述接口(2)的顶部接触设置有接触垫(5),所述接触垫(5)呈圆台状设置,且接触垫(5)的底部中心设置有固定槽(6),所述接口(2)的顶部位于固定槽(6)内设置,所述螺纹盖(7)为底部设有开口的圆柱体状结构,且螺纹盖(7)的内壁上设置有内螺纹结构(8),所述螺纹盖(7)的顶部中心贯穿设有通孔(9),且螺纹盖(7)的顶部设置有转轴(10),所述转轴(10)位于通孔(9)的一侧竖直设置,且转轴(10)的侧壁上连接有挡板(11),所述螺纹盖(7)的内底部竖直设置有伸缩筒(12),所述伸缩筒(12)共设置有两个且底部均设置有开口,所述伸缩筒(12)的内顶部设置有弹性弹簧(13),所述弹性弹簧(13)沿伸缩筒(12)的长度方向设置,且弹性弹簧(13)的底部连接有伸缩杆(14),所述伸缩杆(14)的底部出露于伸缩筒(12)连接有压板(15),所述压板(15)的底部中心处设置有滚珠(16),所述伸缩杆(14)的外圈环绕设置有限位盘(17)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造