[发明专利]一种快速测量异型台阶孔的装置及方法

摘要

本发明公开了一种快速测量异型台阶孔的装置及方法，包括量块（10）和卡尺（20）；量块（10）加工有与异型台阶孔（2）对应的扇形凹槽（12）；量块（10）顶面为测量异型台阶孔小孔径的基准面C；卡尺（20）设有大孔径公差范围刻度（24）和小孔径公差范围刻度（26）卡脚（25）下方设有两级台阶，上台阶是检测异型台阶孔小孔径时的基准面A；下台阶是检测异型台阶孔大孔径时的基准面B。本发明可以快速精确的测量出产品是否满足生产装配要求，提高了测量精度，最大程度缩短了产品测量时间和产品装配周期；本发明具有结构简单，操作灵活方便的特点。

主权项

1.一种快速测量异型台阶孔的装置，包括量块（10）和卡尺（20）；其特征在于：量块（10）的形状为圆管状，量块（10）的外圆加工有矩形环槽（11），矩形环槽（11）下方加工有与异型台阶孔（2）内扇形凸台（3）形状对应的扇形凹槽（12），矩形环槽（11）上方内圆面加工有沿圆周均布的矩形凹槽（13）；量块（10）顶面为测量异型台阶孔的基准面C；卡尺（20）包括滑尺（21），滑尺（21）与滑槽（22）滑动连接；滑尺（21）上设有刻度尺（23），滑槽（22）上设有大孔径公差范围刻度（24）和小孔径公差范围刻度（26）；滑尺（21）和滑槽（22）一端均设有卡脚（25），滑尺（21）和滑槽（22）上卡脚（25）对称外伸；卡脚（25）下方设有两级台阶，上台阶是检测异型台阶孔小孔径时的基准面A；下台阶是检测异型台阶孔大孔径时的基准面B。