[发明专利]一种快速测量异型台阶孔的装置及方法

说明书

本发明公开了一种快速测量异型台阶孔的装置及方法，包括量块（10）和卡尺（20）；量块（10）加工有与异型台阶孔（2）对应的扇形凹槽（12）；量块（10）顶面为测量异型台阶孔小孔径的基准面C；卡尺（20）设有大孔径公差范围刻度（24）和小孔径公差范围刻度（26）卡脚（25）下方设有两级台阶，上台阶是检测异型台阶孔小孔径时的基准面A；下台阶是检测异型台阶孔大孔径时的基准面B。本发明可以快速精确的测量出产品是否满足生产装配要求，提高了测量精度，最大程度缩短了产品测量时间和产品装配周期；本发明具有结构简单，操作灵活方便的特点。

技术领域

本发明涉及一种快速测量异型台阶孔的装置及方法，属于产品检验技术领域。

背景技术

在生产过程中，遇到一批产品上设有一种异型台阶孔，该异型台阶孔位于圆管一侧，异型台阶孔外侧为小孔径段，异型台阶孔内侧为大孔径段，在小孔径段设有三段扇形凸台。异型台阶孔内的扇形凸台在产品中起开关限位的作用，大直径孔与小直径孔的同轴度对密封起关键作用。因此对异型台阶孔的检验对产品质量尤为重要。

现有检测内孔的方法主要采用内卡尺，千分尺测量。但由于该异型台阶孔内部有扇形凸台，台阶孔外侧为小孔径，内侧为大孔径，现有的内卡尺，千分尺均无法满足此孔测量要求。

目前只有机床自身精度来保证加工异型台阶孔的加工误差，产品质量无法保证。

发明内容

本发明的目的在于提供一种快速测量异型台阶孔的装置及方法，以满足批量生产中对特殊异型台阶孔的检测要求，确保产品质量，从而克服现有技术的不足。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

本发明的一种快速测量异型台阶孔的装置，包括量块和卡尺；量块的形状为圆管状，量块的外圆加工有矩形环槽，矩形环槽下方加工有与异型台阶孔内扇形凸台形状对应的扇形凹槽，矩形环槽上方内圆面加工有沿圆周均布的矩形凹槽；量块顶面为测量异型台阶孔的基准面C；卡尺包括滑尺，滑尺与滑槽滑动连接；滑尺上设有刻度尺，滑槽上设有大孔径公差范围刻度和小孔径公差范围刻度；滑尺和滑槽一端均设有卡脚，滑尺和滑槽上卡脚对称外伸；卡脚下方设有两级台阶，上台阶是检测异型台阶孔小孔径时的基准面A；下台阶是检测异型台阶孔大孔径时的基准面B。

本发明的一种采用上述装置快速测量异型台阶孔的方法为，该方法采用自制的量块对扇形凸台的角度尺寸进行检测；检测时将量块上的扇形凹槽对准扇形凸台塞入异型台阶孔，能塞入则表示扇形凸台角度尺寸合格，无法塞入则表示扇形凸台的角度尺寸不合格。

前述方法中，采用自制的量块和卡尺对小孔径进行检测；检测时将量块上的扇形凹槽对准扇形凸台塞入异型台阶孔，并使量块上的矩形环槽侧面与扇形凸台端面抵紧；先收缩卡尺的卡脚穿过量块内孔，将卡尺的基准面A与量块的基准面C贴合，然后再向外扩张滑尺使卡尺的两卡脚与小孔径内壁接触，测得异型台阶孔的小孔径尺寸；再水平旋转卡尺获得小孔径的尺寸跳动量。

前述方法中，所述测量小孔径尺寸和尺寸跳动量时，观察刻度尺的0位在小孔径公差范围刻度内为合格；否则为不合格，不合格情况下，刻度尺的0位在小孔径公差范围刻度左侧时，读出测量值，便于工件返修，直至合格；刻度尺的0位在小孔径公差范围刻度右侧时直接报废。

前述方法中，采用自制的量块和卡尺对大孔径进行检测；检测时将量块上的扇形凹槽对准扇形凸台塞入异型台阶孔，并使量块上的矩形环槽侧面与扇形凸台端面抵紧；先收缩卡尺的卡脚穿过量块内孔，将卡尺的基准面B与量块的基准面C贴合，然后再向外扩张滑尺使卡尺的两卡脚与大孔径内壁接触，测得异型台阶孔的大孔径尺寸；再水平旋转卡尺获得大孔径的尺寸跳动量。

前述方法中，所述测量大孔径尺寸和尺寸跳动量时，观察刻度尺的0位在大孔径公差范围刻度内为合格；否则为不合格，不合格情况下，刻度尺的0位在大孔径公差范围刻度左侧时，读出测量值，便于工件返修，直至合格；刻度尺的0位在大孔径公差范围刻度右侧时直接报废。