[发明专利]一种快速测量异型台阶孔的装置及方法

权利要求书

1.一种快速测量异型台阶孔的装置，包括量块（10）和卡尺（20）；其特征在于：量块（10）的形状为圆管状，量块（10）的外圆加工有矩形环槽（11），矩形环槽（11）下方加工有与异型台阶孔（2）内扇形凸台（3）形状对应的扇形凹槽（12），矩形环槽（11）上方内圆面加工有沿圆周均布的矩形凹槽（13）；量块（10）顶面为测量异型台阶孔的基准面C；卡尺（20）包括滑尺（21），滑尺（21）与滑槽（22）滑动连接；滑尺（21）上设有刻度尺（23），滑槽（22）上设有大孔径公差范围刻度（24）和小孔径公差范围刻度（26）；滑尺（21）和滑槽（22）一端均设有卡脚（25），滑尺（21）和滑槽（22）上卡脚（25）对称外伸；卡脚（25）下方设有两级台阶，上台阶是检测异型台阶孔小孔径时的基准面A；下台阶是检测异型台阶孔大孔径时的基准面B。

2.一种快速测量异型台阶孔的方法，其特征在于：该方法采用自制的量块（10）对扇形凸台（3）的角度尺寸进行检测；检测时将量块（10）上的扇形凹槽（12）对准扇形凸台（3）塞入异型台阶孔（2），能塞入则表示扇形凸台（3）角度尺寸合格，无法塞入则表示扇形凸台（3）的角度尺寸不合格。

3.根据权利要求2所述方法，其特征在于：采用自制的量块（10）和卡尺（20）对小孔径（4）进行检测；检测时将量块（10）上的扇形凹槽（12）对准扇形凸台（3）塞入异型台阶孔（2），并使量块（10）上的矩形环槽（11）侧面与扇形凸台（3）端面抵紧；先收缩卡尺（20）的卡脚（25）穿过量块（10）内孔，将卡尺（20）的基准面A与量块（10）的基准面C贴合，然后再向外扩张滑尺（21）使卡尺（20）的两卡脚（25）与小孔径（4）内壁接触，测得异型台阶孔（2）的小孔径（4）尺寸；再水平旋转卡尺（20）获得小孔径（4）的尺寸跳动量。

4.根据权利要求3所述方法，其特征在于：所述测量小孔径（4）尺寸和尺寸跳动量时，观察刻度尺（23）的0位在小孔径公差范围刻度（26）内为合格；否则为不合格，不合格情况下，刻度尺（23）的0位在小孔径公差范围刻度（26）左侧时，读出测量值，便于工件返修，直至合格；刻度尺（23）的0位在小孔径公差范围刻度（26）右侧时直接报废。

5.根据权利要求2所述方法，其特征在于：采用自制的量块（10）和卡尺（20）对大孔径（5）进行检测；检测时将量块（10）上的扇形凹槽（12）对准扇形凸台（3）塞入异型台阶孔（2），并使量块（10）上的矩形环槽（11）侧面与扇形凸台（3）端面抵紧；先收缩卡尺（20）的卡脚（25）穿过量块（10）内孔，将卡尺（20）的基准面B与量块（10）的基准面C贴合，然后再向外扩张滑尺（21）使卡尺（20）的两卡脚（25）与大孔径（5）内壁接触，测得异型台阶孔（2）的大孔径（5）尺寸；再水平旋转卡尺（20）获得大孔径（5）的尺寸跳动量。

6.根据权利要求5所述方法，其特征在于：所述测量大孔径（5）尺寸和尺寸跳动量时，观察刻度尺（23）的0位在大孔径公差范围刻度（24）内为合格；否则为不合格，不合格情况下，刻度尺（23）的0位在大孔径公差范围刻度（24）左侧时，读出测量值，便于工件返修，直至合格；刻度尺（23）的0位在大孔径公差范围刻度（24）右侧时直接报废。