[发明专利]存储器件及其测试电路有效
| 申请号： | 201811629897.9 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN110751975B | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | 金暎勋;金光淳;李相权 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 许伟群;郭放 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器件及其测试电路。存储器件包括：多个存储单元阵列；多个数据传送器，其分别与多个存储单元阵列相对应并且适用于传送从对应的存储单元阵列并行读取的数据；以及测试电路，其适用于：在测试模式期间，在多个数据传送器之中选择一个数据传送器，并且将从被选中的数据传送器并行传送的数据顺序地输出到多个数据输入/输出焊盘之中的一个数据输入/输出焊盘。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 器件 及其 测试 电路 | ||
【主权项】：
1.一种存储器件，包括：/n多个存储单元阵列；/n多个数据传送器，其分别与所述多个存储单元阵列相对应，并且适用于传送从对应的存储单元阵列并行读取的数据；以及/n测试电路，其适用于：在测试模式期间，在所述多个数据传送器之中选择一个数据传送器，并且将从被选中的数据传送器并行传送的数据顺序地输出到多个数据输入/输出焊盘之中的一个数据输入/输出焊盘。/n
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