[发明专利]存储器件及其测试电路

权利要求书

1.一种存储器件，包括：

多个存储单元阵列；

多个数据传送器，其分别与所述多个存储单元阵列相对应，并且适用于分别传送从对应的存储单元阵列并行读取的数据；以及

测试电路，其适用于：在测试模式期间，在所述多个数据传送器之中选择一个数据传送器，并且将从对应于被选中的数据传送器的一个存储单元阵列并行传送的数据顺序地输出到多个数据输入/输出焊盘之中的一个数据输入/输出焊盘。

2.如权利要求1所述的存储器件，其中，所述测试电路包括：

多个选择单元，每个所述选择单元与所述数据传送器的相应的输出线相对应，并且适用于响应于选择信号而输出被选中的数据传送器的输出线的数据。

3.如权利要求2所述的存储器件，还包括：

多个串行化器，其与相应的数据传送器相对应，并且适用于将从所述数据传送器并行传送的数据顺序地输出到所述输入/输出焊盘。

4.如权利要求3所述的存储器件，其中，所述测试电路包括所述多个串行化器之中的一个串行化器，以及

在所述测试模式期间，所述一个串行化器并行地接收从所述选择单元输出的数据，并且将接收到的数据顺序地输出到所述数据输入/输出焊盘之中的所述一个数据输入/输出焊盘。

5.如权利要求2所述的存储器件，还包括：

控制逻辑，其适用于在测试模式期间响应于从外部输入的命令来产生选择信号。

6.如权利要求5所述的存储器件，其中，所述控制逻辑执行计数操作，而以设定的时间间隔来顺序地产生所述选择信号。

7.如权利要求6所述的存储器件，其中，所述多个选择单元响应于顺序地产生的选择信号来顺序地选择所述数据传送器，并且输出被选中的数据传送器的输出线的数据。

8.如权利要求2所述的存储器件，还包括：

多个数据总线反相DBI电路，其分别与所述数据传送器的多个输出线相对应，并且适用于选择性地将对应输出线的逻辑电平反相。

9.根据权利要求8所述的存储器件，其中，所述多个选择单元与所述多个DBI电路相邻地布置，并且共用所述DBI电路的输入线。

10.一种存储器件，包括：

多个数据输入/输出线组；

多个串行化器，其与相应的数据输入/输出线组相对应，并且适用于将经由对应的组的数据输入/输出线并行传送的数据串行化；以及

测试电路，其适用于：在测试模式期间，选择所述多个数据输入/输出线组中的一个组，并且将经由被选中的组的数据输入/输出线并行传送的数据输出到所述多个串行化器中的一个串行化器，

其中，在所述测试模式期间，所述测试电路将从对应于被选中的组的一个存储单元阵列并行传送的数据输出到所述一个串行化器。

11.如权利要求10所述的存储器件，其中，所述测试电路包括：

多个第一选择单元，每个第一选择单元与所述数据输入/输出线组的相应的数据输入/输出线相对应，并且适用于响应于选择信号而输出被选中的组的数据输入/输出线的数据。

12.如权利要求11所述的存储器件，还包括：

与相应的串行化器相对应的多个数据输入/输出焊盘。

13.如权利要求12所述的存储器件，其中，每个串行化器包括：

第二选择单元，其适用于将经由对应组的所述数据输入/输出线并行传送的数据顺序地输出到所述多个数据输入/输出焊盘中的对应的数据输入/输出焊盘。