[发明专利]一种半导体老化中测试(TDBI)程序自动下载及管理系统在审
| 申请号： | 201811587156.9 | 申请日： | 2018-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN111366829A | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 陈伟;冯云龙 | 申请（专利权）人： | 海太半导体（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G06F8/65 |
| 代理公司： | 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 | 代理人： | 赵华 |
| 地址： | 214000 江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体老化中测试(TDBI)程序自动下载及管理系统，旨在提供一种其具有后期运营的变动修改较简单，具备普适性，容易扩展推广的系统，其技术方案要点是，包括以下方式：S01，在Hess中进行相关测试程序(包含Sorter设备DC PGM和TDBI设备的BI PGM)的注册，包含相关测试程序存放的路径；审批完成，数据传输到MES系统；S02，设备开始生产时，设备向EAP/EIS发出获取PGM请求，EAP/EIS根据相关信息去MES系统获取对应PGM的路径，返回给设备；S03，设备根据对应路径，通过FTP，自动下载相应的PGM文件后，开始测试过程。重要系统采用集群配置，保障系统稳定性。JANET协议改造成SECS协议，后期运营的变动修改较简单，具备普适性，容易扩展推广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 老化 测试 tdbi 程序 自动 下载 管理 系统 | ||
【主权项】：
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