[发明专利]用于功能薄膜的电学测试装置在审
| 申请号： | 201811580281.7 | 申请日： | 2018-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN109444222A | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 张晓渝;臧涛成;葛丽娟;马春兰;邢园园 | 申请（专利权）人： | 苏州科技大学 |
| 主分类号： | G01N27/04 | 分类号： | G01N27/04 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 王健 |
| 地址： | 215009 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种用于功能薄膜的电学测试装置，包括电极固定基座、4个铜导线、4个金属铟柱、电压表和电流表，所述电极固定基座开有4个由上置物孔和下置物孔连接的安装通孔，所述铜导线位于下置物孔内，所述金属铟柱位于上置物孔内并与铜导线焊接连接，一压力机构安装于电极固定基座上，测试样品上表面和下表面分别与压力机构的下端和金属铟柱接触，第一双刀双掷开关、第二双刀双掷开关、第三双刀双掷开关和第四双刀双掷开关均包括2个动端、2个通路静端和2个断路静端。本发明电学测试装置保证测试装置的持久耐用，测试的数据准确率更高，并保持被测试样品和电极的接触更好，能准确、方便、可重复地测试薄膜电阻率。 | ||
| 搜索关键词： | 双刀双掷开关 电极固定 电学测试 金属铟 铜导线 测试样品 功能薄膜 压力机构 下置物 置物孔 静端 数据准确率 安装通孔 测试薄膜 测试装置 焊接连接 电流表 电压表 电阻率 可重复 上表面 下表面 电极 断路 动端 下端 测试 保证 | ||
【主权项】：
1.一种用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：包括电极固定基座（1）、4个铜导线（2）、4个金属铟柱（3）、电压表（9）和电流表（11），所述电极固定基座（1）开有4个由上置物孔（7）和下置物孔（8）连接的安装通孔（10），所述铜导线位于下置物孔（8）内，所述金属铟柱（3）位于上置物孔（7）内并与铜导线（2）焊接连接，一压力机构（5）安装于电极固定基座（1）上，测试样品（4）上表面和下表面分别与压力机构（5）的下端和金属铟柱（3）接触；第一双刀双掷开关（12）、第二双刀双掷开关（13）、第三双刀双掷开关（14）和第四双刀双掷开关（15）均包括2个动端、2个通路静端和2个断路静端；所述第一双刀双掷开关（12）的2个动端（121、122）分别通过导线与4个铜导线（2）中的2个铜导线（2）电连接，第一双刀双掷开关（12）的2个通路静端（123、124）分别与第三双刀双掷开关（14）和第四双刀双掷开关（15）的对应的一个动端（141、151）连接；所述第二双刀双掷开关（13）的2个动端（131、132）分别通过导线与4个铜导线（2）中的另2个铜导线电连接，第二双刀双掷开关（13）的2个通路静端（133、134）分别与第三双刀双掷开关（14）和第四双刀双掷开关（15）的对应的另一个动端（142、152）连接；所述电流表（11）跨接于第三双刀双掷开关（14）的一个通路静端（143）和第四双刀双掷开关（15）的对应的一个通路静端（153）之间，所述电压表（9）跨接于第三双刀双掷开关（14）的另一个通路静端（144）和第四双刀双掷开关（15）的对应的另一个通路静端（154）之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州科技大学，未经苏州科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811580281.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
