[发明专利]用于功能薄膜的电学测试装置在审
| 申请号： | 201811580281.7 | 申请日： | 2018-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN109444222A | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 张晓渝;臧涛成;葛丽娟;马春兰;邢园园 | 申请（专利权）人： | 苏州科技大学 |
| 主分类号： | G01N27/04 | 分类号： | G01N27/04 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 王健 |
| 地址： | 215009 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 双刀双掷开关 电极固定 电学测试 金属铟 铜导线 测试样品 功能薄膜 压力机构 下置物 置物孔 静端 数据准确率 安装通孔 测试薄膜 测试装置 焊接连接 电流表 电压表 电阻率 可重复 上表面 下表面 电极 断路 动端 下端 测试 保证 | ||
1.一种用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：包括电极固定基座（1）、4个铜导线（2）、4个金属铟柱（3）、电压表（9）和电流表（11），所述电极固定基座（1）开有4个由上置物孔（7）和下置物孔（8）连接的安装通孔（10），所述铜导线位于下置物孔（8）内，所述金属铟柱（3）位于上置物孔（7）内并与铜导线（2）焊接连接，一压力机构（5）安装于电极固定基座（1）上，测试样品（4）上表面和下表面分别与压力机构（5）的下端和金属铟柱（3）接触；
第一双刀双掷开关（12）、第二双刀双掷开关（13）、第三双刀双掷开关（14）和第四双刀双掷开关（15）均包括2个动端、2个通路静端和2个断路静端；
所述第一双刀双掷开关（12）的2个动端（121、122）分别通过导线与4个铜导线（2）中的2个铜导线（2）电连接，第一双刀双掷开关（12）的2个通路静端（123、124）分别与第三双刀双掷开关（14）和第四双刀双掷开关（15）的对应的一个动端（141、151）连接；
所述第二双刀双掷开关（13）的2个动端（131、132）分别通过导线与4个铜导线（2）中的另2个铜导线电连接，第二双刀双掷开关（13）的2个通路静端（133、134）分别与第三双刀双掷开关（14）和第四双刀双掷开关（15）的对应的另一个动端（142、152）连接；
所述电流表（11）跨接于第三双刀双掷开关（14）的一个通路静端（143）和第四双刀双掷开关（15）的对应的一个通路静端（153）之间，所述电压表（9）跨接于第三双刀双掷开关（14）的另一个通路静端（144）和第四双刀双掷开关（15）的对应的另一个通路静端（154）之间。
2.根据权利要求1所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：所述压力机构（5）包括弹簧柱塞（6），此弹簧柱塞（6）下端压在测试样品（4）的表面。
3.根据权利要求1所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：所述上置物孔（7）的高度为2~5mm，直径为0.4~0.6mm，所述下置物孔（8）的高度为3~6mm，直径为1.5~2.0mm。
4.根据权利要求1所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：所述上置物孔（7）的直径小于下置物孔（8）的直径。
5.根据权利要求1所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：所述铜导线（2）的外部套有外壳。
6.根据权利要求5所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：具有外壳的所述铜导线（2）的直径为1.5~2.0mm。
7.根据权利要求1所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：所述压力装置（5）向下压的压力大小在0.1~0.8N之间可控。
8.根据权利要求1所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：所述电极固定基座（1）的材质为聚四氟乙烯。
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