[发明专利]光电集成电路及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201811566032.2 申请日: 2018-12-20
公开(公告)号: CN111354829A 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 尹晓雪 申请(专利权)人: 西安科锐盛创新科技有限公司
主分类号: H01L31/153 分类号: H01L31/153;H01L31/173;H01L31/18
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 刘长春
地址: 710065 陕西省西安市高新区高新路86号*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种光电集成电路及其制备方法,该方法包括:在硅衬底表面生长外延层,并在外延层内刻蚀形成光电集成区和CMOS器件区;在CMOS器件区制备CMOS器件;在光电集成区制备发光器件、波导器件及探测器件;在CMOS器件中的PMOS表面和波导器件表面形成第一应变层;在CMOS器件中的NMOS表面和探测器件表面形成第二应变层;在光电集成区和CMOS器件区制备电极。本发明实施例,通过将压应变材料设置于PMOS表面和所述波导器件表面,张应变材料设置于NMOS表面和所述探测器件表面,通过应变调制波导器件和探测器件的禁带宽度,实现同层单片光电集成,并简化工艺。
搜索关键词: 光电 集成电路 及其 制备 方法
【主权项】:
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