[发明专利]检测装置及其检测方法在审

专利信息
申请号: 201811521276.9 申请日: 2018-12-13
公开(公告)号: CN111323433A 公开(公告)日: 2020-06-23
发明(设计)人: 陈鲁;李青格乐;陈晓静;方一 申请(专利权)人: 深圳中科飞测科技有限公司
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 颜镝
地址: 518110 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本公开涉及一种检测装置及其检测方法。检测装置包括:第一光源组件(30),用于向具有至少一个弯曲检测表面的待检测物体(10)提供探测光,所述弯曲检测表面在所述第一弯曲方向上至少有两个位置的法线不平行;和探测器(20),设置在所述待检测物体(10)的一侧,用于采集所述探测光在所述待检测物体(10)沿所述第一弯曲方向连续的表面的反射光;其中,所述探测器(20)能够在所述弯曲检测表面上位于所述探测器(20)沿所述第一弯曲方向连续覆盖的探测区的部分没有缺陷时,采集所述探测光在所述探测区内任一位置的部分或全部反射光。本公开实施例能够使用较少的探测镜头来实现弯曲表面检测。
搜索关键词: 检测 装置 及其 方法
【主权项】:
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