[发明专利]检测装置及其检测方法

说明书

本公开涉及一种检测装置及其检测方法。检测装置包括：第一光源组件(30)，用于向具有至少一个弯曲检测表面的待检测物体(10)提供探测光，所述弯曲检测表面在所述第一弯曲方向上至少有两个位置的法线不平行；和探测器(20)，设置在所述待检测物体(10)的一侧，用于采集所述探测光在所述待检测物体(10)沿所述第一弯曲方向连续的表面的反射光；其中，所述探测器(20)能够在所述弯曲检测表面上位于所述探测器(20)沿所述第一弯曲方向连续覆盖的探测区的部分没有缺陷时，采集所述探测光在所述探测区内任一位置的部分或全部反射光。本公开实施例能够使用较少的探测镜头来实现弯曲表面检测。

技术领域

本公开涉及检测领域，尤其涉及一种检测装置及其检测方法。

背景技术

玻璃材料在现代工业制造中被广泛使用，例如作为手机屏幕、光学透镜、电池片、曲面显示屏等。随着加工水平的进步，越来越多的玻璃产品被设计成曲面结构，以实现更好的功能或达到更好的外观。由于曲面部分加工难度较大，镜面曲面有较大的可能出现缺陷，从而影响其功能及外观，因此需要对这部分进行检测，以保证产品合格率。

对玻璃产品表面缺陷的检测主要采用光学检测的方法，按照收集信号光的来源可包括明场检测和暗场检测。明场检测是通过探测待测物表面反射的光束强度，来实现对待测物表面进行检测的方法。明场检测具有灵敏度高、程序设定简单等优点，在工业检测中具有重要应用。暗场检测是通过探测待测物表面的散射光强度，来实现对待测物表面进行检测的方法。暗场检测对凸起等缺陷的检测可实现更好的灵敏度。

由于玻璃曲面的弧度不同，造成反射光位置不同，因此给明场检测中的信号光收集增加了难度。在现有的工业检测方法中，当对待测物体的曲面进行检测时，往往需要通过多个探测镜头从不同方向收集待测物反射的信息。这种检测方法对光源要求较低，可以利用常规的环形光源、条形光源、同轴光源等。然而，由于探测镜头个数较多，且探测器价格昂贵，导致检测设备成本较高，另外，多个探测镜头探测容易增加数据处理的复杂性。

发明内容

有鉴于此，本公开实施例提供一种检测装置及其检测方法，能够使用较少的探测镜头来实现弯曲表面检测。

在本公开的一个方面，提供一种检测装置，包括：

第一光源组件，用于向具有至少一个弯曲检测表面的待检测物体提供探测光，所述弯曲检测表面在第一弯曲方向上至少有两个位置的法线不平行；和

探测器，设置在所述待检测物体的一侧，用于采集所述探测光在所述待检测物体沿所述第一弯曲方向连续的表面的反射光。

在一些实施例中，所述第一光源组件为连续的非平面光源。

在一些实施例中，所述弯曲检测表面包括检测平面和第一检测表面，所述检测平面与所述第一检测表面连接，且所述第一检测表面各点处的法线均与所述检测平面不平行，所述第一光源组件包括：

第一光源段，用于向所述检测平面提供探测光；和

第二光源段，与所述第一光源段连接，用于向所述第一检测表面提供探测光；

其中，所述第一光源段提供的探测光在所述检测平面上形成的光斑与所述第二光源段提供的探测光在所述第一检测表面形成的光斑相交。

在一些实施例中，所述第二光源段的发光面包括弧形发光面，所述弧形发光面临近所述第一检测表面的一侧呈内凹弧形。

在一些实施例中，所述弧形发光面上各点沿所述探测器接收的光线的传播方向到相邻的所述第一检测表面的距离相等。

在一些实施例中，所述弧形发光面远离所述第一光源段的一端与所述探测器分别位于所述检测平面相反方向的两侧。

在一些实施例中，所述第一光源组件为弥散光源。