[发明专利]一种X射线荧光光谱法测定钛铁合金中各组分含量的方法在审
申请号: | 201811504310.1 | 申请日: | 2018-12-10 |
公开(公告)号: | CN109557118A | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 李文生;孙肖媛;王磊;许涯平;曾海梅 | 申请(专利权)人: | 武钢集团昆明钢铁股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G01N23/2202 |
代理公司: | 昆明知道专利事务所(特殊普通合伙企业) 53116 | 代理人: | 谢乔良;张玉 |
地址: | 650300 云南省*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | 本发明公开了一种X射线荧光光谱法测定钛铁合金中各组分含量的方法,针对试样不能高温熔融制样,采用粉末压片制取分析试样;采用校准曲线法制作各元素的分析程序,测定各元素特征X射线强度建立最终的分析程序和漂移校正程序,对仪器进行漂移校正和验证分析确认后再分析试样,分析结果从计算机直接读出。本发明可一次性分析出钛铁合金中钛、铝、硅、磷、铜、锰等多种元素,操作简单,分析速度快。 | ||
搜索关键词: | 钛铁合金 漂移 分析程序 分析试样 一次性分析 粉末压片 高温熔融 校正程序 校准曲线 元素特征 制取 制样 读出 校正 分析 验证 计算机 | ||
【主权项】:
1.一种X射线荧光光谱法测定钛铁合金中各组分含量的方法,其特征在于包括以下步骤:1)制作待测压片:钛铁合金经过干燥、破碎、混合、缩分、研磨、过筛,得到粉末试样,取样1.5~2.5g,在压片机上制作成样片作为待测定样;2)光谱仪参数设定:校准光谱仪,选择各元素的Ka谱线作为分析线,同时选择与谱线对应的2θ角,光管电压20~40KV,光管电流60~125mA;为使含量0.1%以上的元素得到尽可能高的计数强度,保证测定的灵敏度,同时使含量10%以上的元素不因计数率太高而漏计,对各元素的分析条件进行了设定,分析条件见表1:表1仪器工作条件
3)测定并记录数据:分析测定各组分含量,从计算机读取数据并记录,即可。
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