[发明专利]一种液晶显示屏背光检测中快速定位缺陷位置的方法有效
| 申请号： | 201811482028.8 | 申请日： | 2018-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN109507815B | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 陈武;余鑫;张胜森;郑增强 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 李佑宏 |
| 地址： | 430070 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种液晶显示屏背光检测中快速定位缺陷位置的方法，包括拍摄背光检测区域的光学图像，并在光学图像坐标系中输出缺陷位置，记录下该缺陷位置的图像缺陷坐标；构建光学图像坐标系与背光检测区域坐标系的映射关系；根据映射关系，利用光学图像坐标系中的图像缺陷坐标获取背光检测区域坐标系中对应的检测缺陷坐标；激光投影阵列根据检测缺陷坐标信息确定激光投射位置，进行激光投射定位并标记缺陷。本发明技术方案针对现有技术中人工缺陷定位误差大、稳定性不够的情况，采用激光投影阵列对缺陷区域进行定位，可以快速定位缺陷位置，节省检测时间，极大地提高检测效率和产能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 液晶显示屏 背光 检测 快速 定位 缺陷 位置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种液晶显示屏背光检测中快速定位缺陷位置的方法，其特征在于，包括S1拍摄背光检测区域的光学图像，并在光学图像坐标系中输出缺陷位置，记录下该缺陷位置的图像缺陷坐标；S2构建光学图像坐标系与背光检测区域坐标系的映射关系；S3根据映射关系，利用光学图像坐标系中的图像缺陷坐标获取背光检测区域坐标系中对应的检测缺陷坐标；S4激光投影阵列根据检测缺陷坐标信息确定激光投射位置，进行激光投射定位并标记缺陷。
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