[发明专利]第III族氮化物半导体发光元件和其制造方法在审

专利信息
申请号: 201811466906.7 申请日: 2016-02-03
公开(公告)号: CN109980057A 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 藤田武彦;渡边康弘 申请(专利权)人: 同和电子科技有限公司
主分类号: H01L33/14 分类号: H01L33/14;H01L33/32;H01L33/00;H01L33/06
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种第III族氮化物半导体发光元件和其制造方法。具体而言,本发明提供具有比以往优异的元件寿命的第III族氮化物半导体发光元件和其制造方法。本发明的第III族氮化物半导体发光元件(100)的特征在于,依次具有n型半导体层(30)、至少包含Al的发光层(40)、电子阻挡层(50)和p型半导体层(60),发光层(40)具备具有阱层(41)和势垒层(42)的量子阱结构,电子阻挡层(50)与发光层(40)相邻、且由Al组成大于势垒层(42)和p型半导体层(60)的层形成,电子阻挡层(51)包含含Si杂质掺杂区域层(51a)。
搜索关键词: 第III族氮化物半导体 发光元件 电子阻挡层 发光层 势垒层 制造 杂质掺杂区域 量子阱结构 元件寿命 阱层
【主权项】:
1.一种第III族氮化物半导体发光元件,其依次具有n型半导体层、至少包含Al的发光层、电子阻挡层和p型半导体层,其特征在于,所述发光层具备基于阱层与势垒层的层叠的量子阱结构,所述电子阻挡层与所述发光层相邻,且由Al组成大于所述势垒层和所述p型半导体层的层形成,所述电子阻挡层包含含Si杂质掺杂区域层,使所述含Si杂质掺杂区域层的掺杂剂为Si和Mg,所述电子阻挡层在比所述含Si杂质掺杂区域层更靠近所述发光层侧还包含p型杂质掺杂区域层,所述含Si杂质掺杂区域层中所含的Si的杂质浓度为1×1018atoms/cm3~2×1019atoms/cm3
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