[发明专利]多功能数字式瞬态响应测试仪有效
| 申请号： | 201811431344.2 | 申请日： | 2018-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN109581017B | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 李伟 | 申请（专利权）人： | 北京宏动科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R13/02 | 分类号： | G01R13/02;G01R23/06;G01R27/16 |
| 代理公司： | 北京栈桥知识产权代理事务所(普通合伙) 11670 | 代理人： | 余柯薇 |
| 地址： | 100041 北京市石景*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种能够对嵌入式电子设备进行测试的多功能数字式瞬态响应测试仪，包括主处理器和为被测设备提供测试电源、测试信号并采集被测设备响应信号的数控电源模块、数控信号生成模块和数据采集模块；主处理器接收上位机发送的控制数据，生成对数控电源模块的电源控制参数和对数控信号生成模块的信号控制参数；数控电源模块根据主处理器生成的电源控制参数，动态调整电源输出参数；数控信号生成模块根据主处理器生成的信号控制参数，动态调整信号输出参数；数据采集模块对被测设备的响应信号进行采样处理后，传输至主处理器进行处理或发送至上位机进行显示。本发明通过上述手段，可有效解决现有技术无法满足灵活多样的设备测试需求问题。 | ||
| 搜索关键词： | 多功能 数字式 瞬态 响应 测试仪 | ||
【主权项】：
1.一种多功能数字式瞬态响应测试仪，用于对嵌入式电子设备进行测试，其特征在于，包括主处理器、数控电源模块、数控信号生成模块和数据采集模块，其中：所述数控电源模块为被测设备提供测试电源，所述数控信号生成模块为被测设备提供测试信号，所述数据采集模块采集被测设备的响应信号；所述主处理器接收上位机发送的控制数据，生成对数控电源模块的电源控制参数和对数控信号生成模块的信号控制参数；所述数控电源模块根据主处理器生成的电源控制参数，动态调整电源输出参数；所述电源输出参数包括输出电压、输出电流和电源的上电时间、下电时间；所述数控信号生成模块根据主处理器生成的信号控制参数，动态调整信号输出参数；所述信号输出参数包括输出信号频率、输出信号幅度和输出信号阻抗；所述数据采集模块对被测设备的响应信号进行采样处理后，传输至主处理器进行处理或发送至上位机进行显示。
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