[发明专利]多功能数字式瞬态响应测试仪有效
申请号: | 201811431344.2 | 申请日: | 2018-11-28 |
公开(公告)号: | CN109581017B | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 李伟 | 申请(专利权)人: | 北京宏动科技有限公司 |
主分类号: | G01R13/02 | 分类号: | G01R13/02;G01R23/06;G01R27/16 |
代理公司: | 北京栈桥知识产权代理事务所(普通合伙) 11670 | 代理人: | 余柯薇 |
地址: | 100041 北京市石景*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多功能 数字式 瞬态 响应 测试仪 | ||
1.一种多功能数字式瞬态响应测试仪,用于对嵌入式电子设备进行测试,其特征在于,包括主处理器、数控电源模块、数控信号生成模块和数据采集模块,其中:
所述数控电源模块为被测设备提供测试电源,所述数控信号生成模块为被测设备提供测试信号,所述数据采集模块采集被测设备的响应信号;
所述数控信号生成模块根据主处理器生成的信号控制参数,动态调整信号输出参数;所述信号输出参数包括输出信号频率、输出信号幅度和输出信号阻抗,数控信号生成模块包括低第二数模转换器、低通滤波器、第二集成运放电路和第二射随输出电路;
所述数控电源模块包括第一数模转换器、第一集成运放电路、纹波调整电路、加法运算器和第一射随输出电路;
所述第一数模转换器的输入端通过并行总线与主处理器连接,第一数模转换器的第一输出端与第一集成运放电路的电压输入端连接,第一数模转换器的第二输出端与纹波调整电路的输入端连接;
所述第一集成运放电路设置有通过主处理器进行程序控制的第一数字电位计;所述纹波调整电路设置有通过主处理器进行程序控制的第二数字电位计;
所述加法运算器的输入端分别与第一集成运放电路的电压输出端和纹波调整电路的纹波输出端连接;所述加法运算器的输出端与第一射随输出电路的输入端连接;
所述第一射随输出电路的输出端与被测设备的电源端连接;
所述数控电源模块根据主处理器生成的电源控制参数,动态调整电源输出参数;所述电源输出参数包括输出电压、输出电流和电源的上电时间、下电时间;
所述数据采集模块对被测设备的响应信号进行采样处理后,传输至主处理器进行处理或发送至上位机进行显示;
所述主处理器接收上位机发送的控制数据,生成对数控电源模块的电源控制参数和对数控信号生成模块的信号控制参数,主处理器还用于对数据采集模块采集的信号进行处理存储,并将存储的信号通过第二数模转换器的预留输出端发送至被测设备的信号输入端,在需要复现的时候进行复现,基于该信号进行数字信号处理。
2.根据权利要求1所述的多功能数字式瞬态响应测试仪,其特征在于,
所述第二数模转换器的输入端通过并行总线与主处理器连接,第二数模转换器的信号输出端通过低通滤波器与第二集成运放电路的信号输入端连接;
所述第二集成运放电路的信号输出端与第二射随输出电路的输入端连接,第二射随输出电路的输出端与被测设备的信号输入端连接;
所述第二集成运放电路设置有通过主处理器进行程序控制的第三数字电位计;所述第二射随输出电路设置有通过主处理器进行程序控制的第四数字电位计。
3.根据权利要求1至2任一所述的多功能数字式瞬态响应测试仪,其特征在于,所述第一数模转换器的电源建立时间为35ns;所述第二数模转换器的测试信号建立时间为35ns。
4.根据权利要求1所述的多功能数字式瞬态响应测试仪,其特征在于,所述数据采集模块包括模数转换器;
所述模数转换器的输入端与被测设备的信号输出端连接,模数转换器的输出端通过并行总线与主处理器连接。
5.根据权利要求1所述的多功能数字式瞬态响应测试仪,其特征在于,所述主处理器发送至上位机进行显示的信号还包括施加到被测设备上的测试信号。
6.根据权利要求1所述的多功能数字式瞬态响应测试仪,其特征在于,所述主处理器为FPGA。
7.一种采用权利要求1至6任一所述的多功能数字式瞬态响应测试仪对被测设备进行测试的方法,其特征在于,包括:
对被测设备施加电源以及测试信号;
在线调整施加到被测设备上的电源或者测试信号参数;
实时采集被测设备的输出响应信号,将所采集的响应信号进行存储并在上位机上进行显示。
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