[发明专利]一种坏点检测和平场校准的联合处理方法在审

专利信息
申请号: 201811431057.1 申请日: 2018-11-28
公开(公告)号: CN109348216A 公开(公告)日: 2019-02-15
发明(设计)人: 郭慧;姚毅 申请(专利权)人: 凌云光技术集团有限责任公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;G06T7/00
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 100094 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请公开一种坏点检测和平场校准的联合处理方法,包括执行图像采集过程,得到一张暗场图和一张亮场图;利用得到的暗场图和亮场图计算平场校准系数;基于算得的平场校准系数进行坏点检测,剔除坏点,得到正常像素点集合;对所有正常像素点采用公式Output=(Input‑FPN)*PRNU进行平场校准,然后输出图像,其中,FPN为固定模式噪声值,PRNU为光电响应不一致性系数,Input和Output分别表示图像的输入数据和输出数据。本申请实施例提供的方法,通过在平场校准过程中实时增加对坏点的检测,有效地将两种传统方法的功能合并,在简化流程的同时保证了响应曲线的质量,提高了工作效率。
搜索关键词: 坏点检测 联合处理 校准系数 正常像素 场校准 暗场 坏点 亮场 固定模式噪声 图像采集过程 表示图像 不一致性 工作效率 功能合并 光电响应 输出数据 输出图像 响应曲线 校准过程 图计算 有效地 校准 申请 剔除 集合 检测 保证
【主权项】:
1.一种坏点检测和平场校准的联合处理方法,其特征在于,所述方法包括:执行图像采集过程,得到一张暗场图和一张亮场图;利用得到的暗场图和亮场图计算平场校准系数;基于算得的平场校准系数进行坏点检测,剔除坏点,得到正常像素点集合;对所有正常像素点采用公式Output=(Input‑FPN)*PRNU进行平场校准,然后输出图像,其中,FPN为固定模式噪声值,PRNU为光电响应不一致性系数,Input和Output分别表示图像的输入数据和输出数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于凌云光技术集团有限责任公司,未经凌云光技术集团有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811431057.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top