[发明专利]一种坏点检测和平场校准的联合处理方法在审
申请号: | 201811431057.1 | 申请日: | 2018-11-28 |
公开(公告)号: | CN109348216A | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 郭慧;姚毅 | 申请(专利权)人: | 凌云光技术集团有限责任公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;G06T7/00 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 100094 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请公开一种坏点检测和平场校准的联合处理方法,包括执行图像采集过程,得到一张暗场图和一张亮场图;利用得到的暗场图和亮场图计算平场校准系数;基于算得的平场校准系数进行坏点检测,剔除坏点,得到正常像素点集合;对所有正常像素点采用公式Output=(Input‑FPN)*PRNU进行平场校准,然后输出图像,其中,FPN为固定模式噪声值,PRNU为光电响应不一致性系数,Input和Output分别表示图像的输入数据和输出数据。本申请实施例提供的方法,通过在平场校准过程中实时增加对坏点的检测,有效地将两种传统方法的功能合并,在简化流程的同时保证了响应曲线的质量,提高了工作效率。 | ||
搜索关键词: | 坏点检测 联合处理 校准系数 正常像素 场校准 暗场 坏点 亮场 固定模式噪声 图像采集过程 表示图像 不一致性 工作效率 功能合并 光电响应 输出数据 输出图像 响应曲线 校准过程 图计算 有效地 校准 申请 剔除 集合 检测 保证 | ||
【主权项】:
1.一种坏点检测和平场校准的联合处理方法,其特征在于,所述方法包括:执行图像采集过程,得到一张暗场图和一张亮场图;利用得到的暗场图和亮场图计算平场校准系数;基于算得的平场校准系数进行坏点检测,剔除坏点,得到正常像素点集合;对所有正常像素点采用公式Output=(Input‑FPN)*PRNU进行平场校准,然后输出图像,其中,FPN为固定模式噪声值,PRNU为光电响应不一致性系数,Input和Output分别表示图像的输入数据和输出数据。
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