[发明专利]一种坏点检测和平场校准的联合处理方法

权利要求书

1.一种坏点检测和平场校准的联合处理方法，其特征在于，所述方法包括：

执行图像采集过程，得到一张暗场图和一张亮场图；

利用得到的暗场图和亮场图计算平场校准系数；

基于算得的平场校准系数进行坏点检测，剔除坏点，得到正常像素点集合；

对所有正常像素点采用公式Output＝(Input-FPN)*PRNU进行平场校准，然后输出图像，其中，FPN为固定模式噪声值，PRNU为光电响应不一致性系数，Input和Output分别表示图像的输入数据和输出数据。

2.根据权利要求1所述的一种坏点检测和平场校准的联合处理方法，其特征在于，所述基于算得的平场校准系数进行坏点检测，剔除坏点，得到正常像素点集合包括：

设置平场校准系数阈值T_FPN和T_PRNU；其中，T_FPN为固定模式噪声阈值，T_PRNU为光电响应不一致性系数阈值；

根据平场校准系数和平场校准系数阈值T_FPN和T_PRNU，逐一判断每个像素点是否为坏点；

若判断该像素点为坏点，将该像素点的坐标存储在相机中；若判断该像素点不是坏点，则认为是正常像素点；

当所有像素点判断完毕，将所有正常像素点构成正常像素点集合。

3.根据权利要求2所述的一种坏点检测和平场校准的联合处理方法，其特征在于，所述根据平场校准系数和平场校准系数阈值T_FPN和T_PRNU，逐一判断每个像素点是否为坏点包括：

将所有像素点的平场校准系数求平均值，得到固定模式噪声均值mean(FPN)和光电响应不一致性系数均值mean(PRNU)；

分别计算每个像素点的平场校准系数与平均值之间的偏差，并将偏差与平场校准系数阈值进行比较；若满足公式

则判断该像素点为坏点；若不满足上述公式，则判断该像素点为正常像素点。

4.根据权利要求3所述的一种坏点检测和平场校准的联合处理方法，其特征在于，所述平场校准系数阈值T_FPN＝300％，T_PRNU＝50％。

5.根据权利要求1所述的一种坏点检测和平场校准的联合处理方法，其特征在于，所述暗场图为相机在暗室中，光源全部关闭且曝光时间最小时采集的图像；所述亮场图为相机在正常曝光时间下，拍摄平板光源，使图像灰度值达到图像饱和值的80％时采集的图像。

6.根据权利要求1所述的一种坏点检测和平场校准的联合处理方法，其特征在于，所述执行图像采集过程，得到一张暗场图和一张亮场图包括：

分别拍摄至少三张暗场图及至少三张亮场图；

计算所有拍摄得到的暗场图的灰度平均值，作为执行下一步骤的暗场图；

计算所有拍摄得到的亮场图的灰度平均值，作为执行下一步骤的亮场图。

7.根据权利要求1所述的一种坏点检测和平场校准的联合处理方法，其特征在于，所述平场校准系数包括固定模式噪声值FPN和光电响应不一致性系数PRNU，所述固定模式噪声值FPN和光电相应不一致性系数PRNU由以下公式计算得出：

其中，I_dark和I_light分别表示暗场图像和亮场图像，max(-)表示求最大值运算。

8.根据权利要求1所述的一种坏点检测和平场校准的联合处理方法，其特征在于，进行平场校准前，所述方法还包括：

采用坏点校正模块对坏点进行修正，使坏点变为正常像素点。