[发明专利]一种坏点检测和平场校准的联合处理方法

说明书

本申请公开一种坏点检测和平场校准的联合处理方法，包括执行图像采集过程，得到一张暗场图和一张亮场图；利用得到的暗场图和亮场图计算平场校准系数；基于算得的平场校准系数进行坏点检测，剔除坏点，得到正常像素点集合；对所有正常像素点采用公式Output＝(Input‑FPN)*PRNU进行平场校准，然后输出图像，其中，FPN为固定模式噪声值，PRNU为光电响应不一致性系数，Input和Output分别表示图像的输入数据和输出数据。本申请实施例提供的方法，通过在平场校准过程中实时增加对坏点的检测，有效地将两种传统方法的功能合并，在简化流程的同时保证了响应曲线的质量，提高了工作效率。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种坏点检测和平场校准的联合处理方法。

背景技术

坏点检测和平场校准都是工业相机生产制造中必不可少的环节。图像传感器作为相机中的成像器件，在理论上可以对所有的感光单元正常响应，并且获得的响应曲线应该一致。然而，由于制造工艺、运输环节、使用寿命等因素的影响，将导致部分感光单元出现不响应或响应异常的情况，这类感光单元通常被认为是图像传感器上的坏点，在使用时需要将这些坏点及时检测出来并做相应的处理，即为坏点校准过程；而对于正常响应的感光单元，其彼此之间的响应也不是严格一致的，会造成拍摄平场图像时出现图像灰度值不一致的情况，对工业检测造成一定的干扰，平场校准就是对图像传感器的响应曲线进行校正的过程，以排除上述干扰。

目前，坏点检测和平场校准是两个独立的处理方法，通常情况下，在相机出厂前，由相机的生产厂家通过对相机进行坏点检测可以将坏点的坐标信息存储在相机中，而客户可以将进行坏点检测后的相机拿到现场去做平场校准，来校正响应曲线。然而，上述实现方法往往存在下列问题：一、随着相机使用时间增加，可能会出现新的坏点，而客户如果不进行坏点检测，势必将会对实际使用产生影响；二、为了防止新出现的坏点造成的干扰，客户需要自行进行常规的坏点检测，另外，客户每更换一种测试场景或测试设备(光源、镜头等)都需要重新进行平场校准，目前坏点检测和平场校准是两个独立的操作过程，这将会使得检测流程非常繁琐，检测效率低。

发明内容

本申请提供一种坏点检测和平场校准的联合处理方法，已解决现有技术中不便对新增的坏点及时做出检测、且检测流程繁琐的问题，并且本申请提供的方法将两种传统方法的功能合并，在简化流程的同时保证了响应曲线的质量，提高了工作效率。

本申请提供了一种坏点检测和平场校准的联合处理方法，包括：

执行图像采集过程，得到一张暗场图和一张亮场图；

利用得到的暗场图和亮场图计算平场校准系数；

基于算得的平场校准系数进行坏点检测，剔除坏点，得到正常像素点集合；

对所有正常像素点采用公式Output＝(Input-FPN)*PRNU进行平场校准，然后输出图像，其中，FPN为固定模式噪声值，PRNU为光电响应不一致性系数，Input和Output分别表示图像的输入数据和输出数据。

可选的，所述基于算得的平场校准系数进行坏点检测，剔除坏点，得到正常像素点集合包括：

设置平场校准系数阈值T_FPN和T_PRNU；其中，T_FPN为固定模式噪声阈值，T_PRNU为光电响应不一致性系数阈值；

根据平场校准系数和平场校准系数阈值T_FPN和T_PRNU，逐一判断每个像素点是否为坏点；

若判断该像素点为坏点，将该像素点的坐标存储在相机中；若判断该像素点不是坏点，则认为是正常像素点；

当所有像素点判断完毕，将所有正常像素点构成正常像素点集合。