[发明专利]一种S型分段相位编码结构光三维测量方法有效
申请号: | 201811415235.1 | 申请日: | 2018-11-26 |
公开(公告)号: | CN109579742B | 公开(公告)日: | 2020-05-29 |
发明(设计)人: | 伏燕军;陈元;韩旭;王霖;钟可君;夏桂锁 | 申请(专利权)人: | 南昌航空大学 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 南昌洪达专利事务所 36111 | 代理人: | 刘凌峰 |
地址: | 330000 江*** | 国省代码: | 江西;36 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种S型分段相位编码结构光三维测量方法,由相位编码原理、格雷码原理、条纹级次求解原理、三维测量原理四大关键部分组成。本发明的优点是:(1)对相位编码条纹采用分段编码处理,使嵌入的码字数量有了很大的提高,提高了测量精度。(2)采用S型分段相位编码,分段级次跳变处的分段相位编码级次无跳变,使分段级次判断更加精确。(3)简化分段相位编码条纹级次连接数据处理的算法。(4)本方法在高频测量时稳定性好。 | ||
搜索关键词: | 一种 分段 相位 编码 结构 三维 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种S型分段相位编码结构光三维测量方法,由相位编码原理、格雷码原理、条纹级次求解原理、三维测量原理四大关键部分组成,其特征在于:步骤一:根据相位编码条纹编码原理:通过设计使m个码字嵌入到一个S型分段的阶梯编码中,得到n段的分段编码相位,最终得到m*n个码字的相位编码条纹图;步骤二:根据格雷码条纹编码原理:通过设计使格雷码条纹对分段相位编码条纹的段数n进行编码,最终得到分段级次为n的格雷码条纹图;步骤三:将正弦条纹图、设计的相位编码和格雷码投影条纹图由投影仪投影个被测物体表面,再通过相机采集被物体调制的条纹图;步骤四:从采样的三幅正弦条纹图I1、I2、I3中使用三步相移法下式(1)解调出包裹相位;
步骤五:利用编码条纹图解调出分段的相位编码条纹级次K1,利用格雷码条纹图解出分段级次K2,在分段级次K2跳变处的分段相位编码级次K1无跳变的约束条件下,利用连接算法式(2)进而求出条纹级次K,
再通过解相公式(3)得到条纹图的真实相位值Δφ=φ+2×K×π (3)步骤六:利用相位‑高度公式(4)获得被测物体表面没一点的高度信息![]()
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南昌航空大学,未经南昌航空大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811415235.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。