[发明专利]一种S型分段相位编码结构光三维测量方法有效

专利信息
申请号: 201811415235.1 申请日: 2018-11-26
公开(公告)号: CN109579742B 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 伏燕军;陈元;韩旭;王霖;钟可君;夏桂锁 申请(专利权)人: 南昌航空大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 南昌洪达专利事务所 36111 代理人: 刘凌峰
地址: 330000 江*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明公开了一种S型分段相位编码结构光三维测量方法,由相位编码原理、格雷码原理、条纹级次求解原理、三维测量原理四大关键部分组成。本发明的优点是:(1)对相位编码条纹采用分段编码处理,使嵌入的码字数量有了很大的提高,提高了测量精度。(2)采用S型分段相位编码,分段级次跳变处的分段相位编码级次无跳变,使分段级次判断更加精确。(3)简化分段相位编码条纹级次连接数据处理的算法。(4)本方法在高频测量时稳定性好。
搜索关键词: 一种 分段 相位 编码 结构 三维 测量方法
【主权项】:
1.一种S型分段相位编码结构光三维测量方法,由相位编码原理、格雷码原理、条纹级次求解原理、三维测量原理四大关键部分组成,其特征在于:步骤一:根据相位编码条纹编码原理:通过设计使m个码字嵌入到一个S型分段的阶梯编码中,得到n段的分段编码相位,最终得到m*n个码字的相位编码条纹图;步骤二:根据格雷码条纹编码原理:通过设计使格雷码条纹对分段相位编码条纹的段数n进行编码,最终得到分段级次为n的格雷码条纹图;步骤三:将正弦条纹图、设计的相位编码和格雷码投影条纹图由投影仪投影个被测物体表面,再通过相机采集被物体调制的条纹图;步骤四:从采样的三幅正弦条纹图I1、I2、I3中使用三步相移法下式(1)解调出包裹相位;步骤五:利用编码条纹图解调出分段的相位编码条纹级次K1,利用格雷码条纹图解出分段级次K2,在分段级次K2跳变处的分段相位编码级次K1无跳变的约束条件下,利用连接算法式(2)进而求出条纹级次K,再通过解相公式(3)得到条纹图的真实相位值Δφ=φ+2×K×π   (3)步骤六:利用相位‑高度公式(4)获得被测物体表面没一点的高度信息
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