[发明专利]具有纳米台阶递变层的高阻氮化镓基缓冲层及制备方法有效

专利信息
申请号: 201811405798.2 申请日: 2018-11-23
公开(公告)号: CN109830535B 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 房育涛;刘波亭;张恺玄;杨健;蔡文必 申请(专利权)人: 厦门市三安集成电路有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/06;H01L21/335
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 李雁翔;张迪
地址: 361000 福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供了一种具有纳米台阶递变层的高阻氮化镓基缓冲层,包括由下至上层叠设置的衬底、成核层、具有纳米台阶的高阻AlxGa1‑xN缓冲层:所述具有纳米台阶的高阻AlxGa1‑xN缓冲层包含多个AlxGa1‑xN纳米台阶组,每一个所述AlxGa1‑xN纳米台阶组的台阶中Al的含量由最下层至最上层依次递变,相邻两个AlxGa1‑xN纳米台阶中Al组分的差值范围为2%‑50%。本发明还提供了上述具有纳米台阶递变层的高阻氮化镓基缓冲层的制备方法。
搜索关键词: 具有 纳米 台阶 递变 氮化 缓冲 制备 方法
【主权项】:
1.一种具有纳米台阶递变层的高阻氮化镓基缓冲层,其特征在于包括由下至上层叠设置的衬底、成核层、具有纳米台阶的高阻AlxGa1‑xN缓冲层:所述具有纳米台阶的高阻AlxGa1‑xN缓冲层包含多个AlxGa1‑xN纳米台阶组,每一个所述AlxGa1‑xN纳米台阶组的台阶中Al的含量由最下层至最上层依次递变,相邻两个AlxGa1‑xN纳米台阶中Al组分的差值范围为2%‑50%。
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