[发明专利]一种孔轴线垂直度测量方法

摘要

本发明公开了一种孔轴线垂直度测量方法，首先分析被测件的被测孔和基准面特征；制作与被测件特征相匹配的测量工具，将被测件套在辅助件下部台阶轴上，基准面朝上，螺母拧在上部台阶轴上，用于压紧被测件的基准面；利用三坐标、激光跟踪仪将顶端台阶轴两个截面A、B的圆心按基准面法向投影到基准面上；测量两个投影圆心的偏差值；将偏差值与设计要求进行对比，得到被测件的垂直度。本发明可以采用简单快捷的方法实现对孔相对于面的垂直度产生的干涉进行量化测量，便于工程化应用。可应用于一般连接结构件中孔轴线与安装面垂直度的直接量化测量，更宜于小型连接孔孔轴线与连接接触面的垂直度测量。

主权项

1.一种孔轴线垂直度测量方法，其特征在于，具体包括以下步骤：S1、分析被测件的被测孔和基准面特征；S2、制作与被测件特征相匹配的测量工具，所述测量工具由螺母和辅助件组成，辅助件为台阶轴结构，从上往下依次由顶端台阶轴、上部台阶轴、下部台阶轴和底端组成，其底端上表面为定位基准；测量工具的尺寸要求如下：下部台阶轴的直径为D1，D1≤被测孔直径；测量工具顶端台阶轴直径为D3，D3

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