[发明专利]一种孔轴线垂直度测量方法在审
| 申请号： | 201811339910.7 | 申请日： | 2018-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN109211070A | 公开（公告）日： | 2019-01-15 |
| 发明（设计）人： | 张佳宇 | 申请（专利权）人： | 北京星航机电装备有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/245 | 分类号： | G01B5/245;G01B11/26;G01B21/22 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 赵欣 |
| 地址： | 100074 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 被测件 测量 基准面 垂直度 圆心 轴线垂直 孔轴线 台阶轴 种孔 投影 量化 螺母 垂直度测量 工程化应用 激光跟踪仪 顶端台阶 连接结构 安装面 辅助件 连接孔 三坐标 测孔 朝上 对孔 法向 套在 压紧 匹配 干涉 制作 应用 分析 | ||
1.一种孔轴线垂直度测量方法，其特征在于，具体包括以下步骤：
S1、分析被测件的被测孔和基准面特征；
S2、制作与被测件特征相匹配的测量工具，所述测量工具由螺母和辅助件组成，辅助件为台阶轴结构，从上往下依次由顶端台阶轴、上部台阶轴、下部台阶轴和底端组成，其底端上表面为定位基准；
测量工具的尺寸要求如下：
下部台阶轴的直径为D1，D1≤被测孔直径；
测量工具顶端台阶轴直径为D3，D3<M(X)<D1；M(X)为测量工具上部台阶轴的直径；
下部台阶轴的高度为L1，小于被测部位的穿过厚度；
S3、将被测件套在辅助件下部台阶轴上，基准面朝上，螺母拧在上部台阶轴上，用于压紧被测件的基准面；
S4、利用三坐标、激光跟踪仪将顶端台阶轴两个截面A、B的圆心按基准面法向投影到基准面上；
S5、测量S4中两个投影圆心的偏差值；
S6、将偏差值与设计要求进行对比，得到被测件的垂直度。
2.根据权利要求1所述的一种孔轴线垂直度测量方法，其特征在于，测量工具底端尺寸为D2，与安装特征相关，该特征可为任意形状。
3.根据权利要求1所述的一种孔轴线垂直度测量方法，其特征在于，L1＝被测部位的穿过厚度-0.5mm。
4.根据权利要求1所述的一种孔轴线垂直度测量方法，其特征在于，L2为顶端台阶轴的高度，与被测部位的测量空间和测量精度相关，尽量增长。
5.根据权利要求1所述的一种孔轴线垂直度测量方法，其特征在于，S4中，其中两个截面的距离尽量设置较大。
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