[发明专利]一种GaN基低阶表面光栅DFB激光器的制备方法在审

专利信息
申请号: 201811330731.7 申请日: 2018-11-09
公开(公告)号: CN109462144A 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 李俊泽;张建;邓泽佳;杨浩军;李沫 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院电子工程研究所
主分类号: H01S5/34 分类号: H01S5/34;H01S5/12
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人: 蒋斯琪
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种GaN基低阶表面光栅DFB激光器的制备方法,包括步骤:GaN基激光器外延片上沉积SiO2掩膜;使用纳米压印技术在基片表面制备均匀的布拉格光栅,光刻技术制作条形图样,形成脊型与光栅的复合结构;刻蚀GaN,经条形光刻胶与光栅状SiO2复合结构掩膜刻蚀外延片,形成具有脊型的表面复合光栅结构;制备激光器芯片上下电极结构,得到GaN基DFB半导体激光器。本发明将光栅制备与工艺后期所需的脊型图样同时刻蚀,分别通过纳米压印模板与光刻版图设计组合,能针对不同波长、不同阶光栅、不同尺寸GaN基DFB激光器进行设计与制备,能大幅降低GaN基DFB半导体激光器成本,有效提高产品的均匀性。
搜索关键词: 制备 脊型 半导体激光器 光栅 表面光栅 复合结构 外延片 低阶 刻蚀 掩膜 纳米压印技术 纳米压印模板 上下电极结构 布拉格光栅 激光器芯片 版图设计 表面复合 光刻技术 光栅结构 光栅制备 基片表面 条形图样 光栅状 均匀性 条形光 波长 光刻 图样 沉积 制作
【主权项】:
1.一种GaN基低阶表面光栅DFB激光器的制备方法,其特征在于包括以下步骤:步骤P1,准备氮化镓基激光器的外延片,对外延片进行清洁后,在外延片上沉积形成SiO2掩膜层;步骤P2,利用纳米压印技术结合刻蚀工艺在外延片的SiO2掩膜层上制备布拉格光栅结构层,在布拉格光栅结构层上利用光刻技术曝光制备条形图样层,条形图样层的条形图样与布拉格光栅方向相垂直,形成条形叠加布拉格光栅的复合掩膜结构;步骤P3,以所述条形叠加布拉格光栅的复合掩膜结构为基础,刻蚀外延片氮化镓材料,形成具有脊型的表面复合光栅结构层,然后清洁残胶并腐蚀剩余的SiO2掩膜,得到具有表面复合光栅结构的激光器外延片以备用;步骤P4,基于具有表面复合光栅结构的激光器外延片,完成DFB激光器的制备工艺。
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