[发明专利]一种单晶二硫化钼器件阵列的制备方法在审
申请号: | 201811326754.0 | 申请日: | 2018-11-08 |
公开(公告)号: | CN109234702A | 公开(公告)日: | 2019-01-18 |
发明(设计)人: | 李鹏 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | C23C16/30 | 分类号: | C23C16/30;C23C16/02;C23C16/56;C23C14/16;C23C14/35 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 段俊涛 |
地址: | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种单晶二硫化钼器件阵列的制备方法,首先通过化学气相沉积法在基底表面生长大面积连续的多晶二硫化钼;其次通过刻蚀将二硫化钼图形化,在基底表面形成晶核阵列;之后将表面带有晶核阵列的基底再次进行化学气相沉积,在晶核处生成单晶二硫化钼,该单晶二硫化钼生长的位置由植入晶核的位置精确控制,形成单晶二硫化钼阵列;最后采用微纳加工技术加工金属电极,形成单晶器件阵列;本发明通过植入晶核的方法可避免二硫化钼器件阵列中存在晶界缺陷,获得高质量二硫化钼微纳器件阵列,为二硫化钼器件的实用化奠定基础。 | ||
搜索关键词: | 二硫化钼 单晶 晶核 器件阵列 化学气相沉积 基底表面 植入 制备 微纳加工技术 单晶器件 金属电极 晶界缺陷 微纳器件 生长 图形化 多晶 基底 刻蚀 加工 | ||
【主权项】:
1.一种单晶二硫化钼器件阵列的制备方法,其特征在于,其制备步骤依次为:(1)首先通过化学气相沉积法在基底表面生长大面积连续的多晶二硫化钼,用真空泵将石英炉内的压强抽至10mTorr,然后向石英炉内通入氩气,生长温度500‑700摄氏度,生长时间10‑30分钟,所述二硫化钼为二维材料,即厚度方向仅有单层原子或少数几层原子;(2)将生成的大面积连续的多晶二硫化钼通过干法刻蚀的方法图形化,在基底表面形成晶核阵列,干法刻蚀采用的氧气压强为10‑15Pa、流速50‑100sccm、功率50‑100W、刻蚀时间2‑5分钟;(3)将表面带有晶核阵列的基底再次进行化学气相沉积,用真空泵将石英炉内的压强抽至10mTorr,然后向石英炉内通入氩气,生长温度500‑700摄氏度,生长时间2‑10分钟,单晶二硫化钼只生长在植入晶核的位置,因此单晶二硫化钼生长的位置由植入晶核的位置确定,形成单晶二硫化钼阵列;(4)采用微纳加工技术加工金属电极,形成单晶二硫化钼器件阵列。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的