[发明专利]一种光功率探测器及其测量方法与制备方法有效
| 申请号： | 201811312385.X | 申请日： | 2018-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN109540284B | 公开（公告）日： | 2021-01-05 |
| 发明（设计）人： | 甘海勇;冯国进;徐楠;赫英威;刘子龙;吴厚平;林延东 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01J1/04 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及辐射测量领域，公开了一种光功率探测器及其测量方法与制备方法，其中该探测器包括光纤、第一吸光层、导热层和温度传感器；所述第一吸光层包覆于所述光纤的终端的表面，且所述第一吸光层的材料为吸光材料；所述导热层包覆于所述第一吸光层的表面，且所述导热层的材料为导热材料；所述温度传感器设置在所述导热层的表面，用于检测所述导热层的温度。本发明提供的探测器能够较准确的测量光功率，且不会因光的发散特性而影响测量结果，故该探测器能够保证检测结果的高精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率 探测器 及其 测量方法 制备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光功率探测器，其特征在于，包括：光纤、第一吸光层、导热层和温度传感器；所述第一吸光层包覆于所述光纤的终端的表面，且所述第一吸光层的材料为吸光材料；所述导热层包覆于所述第一吸光层的表面，且所述导热层的材料为导热材料；所述温度传感器设置在所述导热层的表面，用于检测所述导热层的温度。
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