[发明专利]一种光功率探测器及其测量方法与制备方法

说明书

本发明涉及辐射测量领域，公开了一种光功率探测器及其测量方法与制备方法，其中该探测器包括光纤、第一吸光层、导热层和温度传感器；所述第一吸光层包覆于所述光纤的终端的表面，且所述第一吸光层的材料为吸光材料；所述导热层包覆于所述第一吸光层的表面，且所述导热层的材料为导热材料；所述温度传感器设置在所述导热层的表面，用于检测所述导热层的温度。本发明提供的探测器能够较准确的测量光功率，且不会因光的发散特性而影响测量结果，故该探测器能够保证检测结果的高精确度。

技术领域

本发明涉及辐射测量领域，特别是涉及一种光功率探测器及其测量方法与制备方法。

背景技术

光导纤维(即，光纤)是一种能够传导光波和各种光信号的纤维。在当今的信息时代，人们在经济活动和科学研究中有大量的信息及数据需要加工和处理，而光纤正是传输信息的最理想的工具。以光导通信技术为基础的信息系统与传统的电缆系统比较，在同样多的时间内它可以进行更大量和更多类型信息的传送。

光功率测量方法一般是：将被测光入射到光纤后，将光纤终端对准一个平面探测器，该平面探测器的探测面能有效覆盖从光纤终端出射的光辐射横截面，其光谱响应度一般是溯源至相应的国家计量基标准。但是，平面探测器的光谱响应度所溯源到的标准，一般是通过准直光来实现量值复现的，而光功率离开光纤终端后具有一定的发散特性，以不同角度入射到探测器平面时会带来误差，因此需要发展更好的办法来实现高准确度测量。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明的目的是提供一种光功率探测器，旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

本发明的目的是提供一种光功率探测器的光功率测量方法，旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

本发明的目的是提供一种光功率探测器的制备方法，旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题，本发明提供一种光功率探测器，包括：光纤、第一吸光层、导热层和温度传感器；所述第一吸光层包覆于所述光纤的终端的表面，且所述第一吸光层的材料为吸光材料；所述导热层包覆于所述第一吸光层的表面，且所述导热层的材料为导热材料；所述温度传感器设置在所述导热层的表面，用于检测所述导热层的温度。

本发明还提供一种利用上述的光功率探测器的光功率测量方法，包括：将待测光入射至光纤，以使所述光纤的终端的第一吸光层吸收所述待测光而升温；所述第一吸光层的温度传递至导热层，以使所述导热层的温度升高；根据温度传感器检测的所述导热层的第一次温度变化，获取所述待测光的功率。

本发明还提供一种上述的光功率探测器的制备方法，包括：在光纤的终端的表面包覆第一吸光层，以及在所述第一吸光层的表面包覆导热层；在所述导热层的表面设置温度传感器；其中，所述第一吸光层的材料为吸光材料；所述导热层的材料为导热材料。

(三)有益效果

本发明提供的光功率探测器及其测量方法与制备方法，通过在光纤的终端依次包覆第一吸光层和导热层，以及在导热层上设置温度传感器，则可通过第一吸光层、导热层和温度传感器的相互配合，来检测入射至光纤的光线的功率，进而得到一种可以较准确的测量光功率的探测器，且该光功率探测器不会因光的发散特性而影响测量结果，故该探测器能够保证检测结果的高精确度。

附图说明

图1为本发明光功率探测器的一个优选实施例的纵向剖视图；

图2为本发明光功率探测器的另一个优选实施例的纵向剖视图；

图3为本发明光功率探测器的又一个优选实施例的右视图；

图4为本发明光功率探测器的再一个优选实施例的右视图；