[发明专利]一种检测柱状自组装薄膜结构的方法及其制备方法有效
| 申请号： | 201811299980.4 | 申请日： | 2018-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN109179311B | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 姜杰;杨琼;周益春 | 申请（专利权）人： | 湘潭大学 |
| 主分类号： | B81B1/00 | 分类号： | B81B1/00;B81B7/04;B81C1/00 |
| 代理公司： | 11489 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 陈超<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 411100湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测柱状自组装薄膜结构的方法，包括：分别构建材料A和与基板最稳定的界面结构a，以及材料B和与基板最稳定的界面结构b；分别计算界面结构a的界面结合能(EfA)，以及界面结构b的界面结合能(EfB)；计算界面结合能(EfA)与界面结合能(EfB)的差值，若所述差值大于零，则材料A形成为纳米柱镶嵌在材料B中；若所述差值小于零，则材料B形成为纳米柱镶嵌在材料A中。采用本发明实施例提供的判断竖直柱状自组装薄膜结构的方法能够预先确定所形成的竖直柱状自组装薄膜的结构，可以有选择性的制备竖直柱状自组装薄膜，节省了制备材料，提高了制备效率。 | ||
| 搜索关键词： | 自组装薄膜 界面结合能 界面结构 竖直柱 制备 纳米柱 种检测 基板 柱状 镶嵌 构建材料 预先确定 制备材料 | ||
【主权项】：
1.一种检测柱状自组装薄膜结构的方法，其特征在于，包括：/n采用第一性原理的方法分别构建材料A和与基板最稳定的界面结构a，以及材料B和与基板最稳定的界面结构b；/n分别计算所述界面结构a的第一界面结合能(EfA)，以及界面结构b的第二界面结合能(EfB)；/n计算所述第一界面结合能(EfA)与所述第二界面结合能(EfB)的差值，若所述差值大于零，则由材料A和材料B所形成的柱状自组装薄膜的结构中，材料A为纳米柱材料，材料B为基体材料；若所述差值小于零，由材料A和材料B所形成的柱状自组装薄膜的结构中，材料B为纳米柱材料，材料A为基体材料。/n
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