[发明专利]用于高级集成电路结构制造的连续栅极和鳍状物间隔体在审

专利信息
申请号: 201811297674.7 申请日: 2018-10-31
公开(公告)号: CN109860175A 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: H·M·迈尔;A·图拉;B·何;S·乔希;M·L·哈藤多夫;C·P·奥特 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L27/092;H01L21/8234;H01L21/8238
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 林金朝;王英
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开的实施例属于高级集成电路结构制造的领域,并且具体而言属于10纳米节点和更小的集成电路结构制造和所得结构的领域。在示例中,一种集成电路结构包括鳍状物。绝缘结构与鳍状物的下鳍状物部分的侧壁直接相邻。第一栅极电极在上鳍状物部分之上和绝缘结构的第一部分之上。第二栅极电极在上鳍状物部分之上和绝缘结构的第二部分之上。第一电介质间隔体沿第一栅极电极的侧壁。第二电介质间隔体沿第二栅极电极的侧壁,该第二电介质间隔体在绝缘结构的在第一栅极电极和第二栅极电极之间的第三部分之上与第一电介质间隔体连续。
搜索关键词: 栅极电极 鳍状物 电介质间隔体 绝缘结构 侧壁 高级集成电路 集成电路结构 结构制造 连续栅极 直接相邻 间隔体 制造
【主权项】:
1.一种集成电路结构,包括:包括硅的鳍状物,所述鳍状物具有下鳍状物部分和上鳍状物部分;与所述鳍状物的所述下鳍状物部分的侧壁直接相邻的绝缘结构;在所述上鳍状物部分之上和所述绝缘结构的第一部分之上的第一栅极电极;在所述上鳍状物部分之上和所述绝缘结构的第二部分之上的第二栅极电极;沿所述第一栅极电极的侧壁的第一电介质间隔体;以及沿所述第二栅极电极的侧壁的第二电介质间隔体,所述第二电介质间隔体在所述绝缘结构的在所述第一栅极电极和所述第二栅极电极之间的第三部分之上与所述第一电介质间隔体连续。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英特尔公司,未经英特尔公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811297674.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top