[发明专利]测试装置以及机器学习装置有效

专利信息
申请号: 201811276560.4 申请日: 2018-10-30
公开(公告)号: CN109725597B 公开(公告)日: 2020-10-13
发明(设计)人: 内藤玄造 申请(专利权)人: 发那科株式会社
主分类号: G05B19/406 分类号: G05B19/406;G01R31/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 范胜杰;王立杰
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供测试装置和机器学习装置。测试装置进行故意反常测试,具备机器学习装置,该机器学习装置观测表示测试项目的数据和表示制造机器的工作状态以及规格的数据,作为表示环境的当前状态的状态变量。而且,机器学习装置获取表示实施了测试项目情况下制造机器工作状态的适当与否判定结果的判定数据,使用这些状态变量和判定数据,将制造机器工作状态数据以及制造机器规格数据与测试项目数据关联起来进行学习。
搜索关键词: 测试 装置 以及 机器 学习
【主权项】:
1.一种测试装置,其决定用于测试制造机器的测试项目,其特征在于,所述测试装置构成为决定针对所述制造机器的工作状态以及所述制造机器的规格的测试项目,具备对针对所述制造机器的所述测试项目的决定进行学习的机器学习装置,所述机器学习装置具备:状态观测部,其观测表示所述测试项目的测试项目数据、表示所述制造机器的工作状态的制造机器工作状态数据以及表示所述制造机器的规格的制造机器规格数据,来作为表示环境的当前状态的状态变量;判定数据获取部,其获取判定数据,该判定数据表示实施了所述测试项目的情况下的所述制造机器的工作状态的适当与否判定结果;以及学习部,其使用所述状态变量和所述判定数据,将所述制造机器工作状态数据以及所述制造机器规格数据与所述测试项目数据关联地起来进行学习。
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