[发明专利]芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质有效
| 申请号： | 201811261790.3 | 申请日： | 2018-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN111105839B | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质。涉及芯片测试领域，该方法包括：确定待测试的芯片的语言规则；确定待测试的芯片的产品及时序规格；根据所述语言规则与所述产品及时序规格由测试模板库中确定待测试模板；根据所述产品及时序规则与所述待测试模板生成测试编码；以及通过所述测试编码对待测试的芯片进行自动化测试。本公开涉及的芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质，能够自动生成大数据复杂存储器测试编码，采用正规化方式快速地产生不同规格的DDR4存储器测试编码，提升芯片产品验证分析效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 电子设备 计算机 可读 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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