[发明专利]芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质

说明书

本公开涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质。涉及芯片测试领域，该方法包括：确定待测试的芯片的语言规则；确定待测试的芯片的产品及时序规格；根据所述语言规则与所述产品及时序规格由测试模板库中确定待测试模板；根据所述产品及时序规则与所述待测试模板生成测试编码；以及通过所述测试编码对待测试的芯片进行自动化测试。本公开涉及的芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质，能够自动生成大数据复杂存储器测试编码，采用正规化方式快速地产生不同规格的DDR4存储器测试编码，提升芯片产品验证分析效率。

技术领域

本公开涉及芯片测试领域，具体而言，涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质。

背景技术

随着当前存储技术的快速发展和存储市场的高速扩大，存储器芯片以其容量大、读写速度快、价格低廉等绝对优势迅速崛起，同时，为了保证存储器能长期可靠的工作，存储器产品出厂前需要做各种高速、细致的测试。

在相关技术中，对于存储器产品的测试，大部分工作需要测试人员手工完成，测试人员需要先确认待测试存储器的对应型号、速度，然后选择适合与该储存器型号的测试项目。在确定了测试项目之后，测试人员还需要手动编写测试代码，对于每一个测试指令，都要依次编写代码，然后通过编写完成的代码进行存储器测试。

这种通过手工编写代码进行芯片测试的方式，极大的浪费了人力物力，降低了存储器测试的效率。而且，随着时代的发展，越来越多的快速大容量的存储器问世，对于存储器的测试代码的复杂度和编码数量的需求也越来越高，而对于大数据的测试代码，继续通过人工编写逐行生成编码的方式，也已经制约了存储器测试行业的发展。

因此，需要一种新的芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质。

在所述背景技术部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

有鉴于此，本公开提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质，能够自动生成大数据复杂存储器测试编码，提高芯片测试效率。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本公开的一方面，提出一种芯片测试方法，该方法包括：确定待测试的芯片的语言规则；确定待测试的芯片的产品及时序规格；根据所述语言规则与所述产品及时序规格由测试模板库中确定待测试模板；根据所述产品及时序规则与所述待测试模板生成测试编码；以及通过所述测试编码对待测试的芯片进行自动化测试。

在本公开的一种示例性实施例中，还包括：通过多个测试模板生成所述测试模板库；所述多个测试模板包括：快速读操作测试模板，快速写操作测试模板，快速读写操作测试模板、自更新测试模板、更新测试模板、ZQ校准测试模板、模式寄存器设置测试模板、以及掉电预充电测试模板。

在本公开的一种示例性实施例中，所述芯片包括：存储器芯片。

在本公开的一种示例性实施例中，所述存储器芯片是DDR4芯片。

在本公开的一种示例性实施例中，根据待测试芯片的规范文档确定待测试的芯片的语言规则。

在本公开的一种示例性实施例中，确定待测试的芯片的产品规则包括：确定待测试芯片的存储器单元地址、存储器行地址、存储器列地址、以及存储器页面大小。

在本公开的一种示例性实施例中，确定待测试的芯片的时序规格包括：确定待测试的存储器的型号识别标识、产品标识、以及参数。

在本公开的一种示例性实施例中，根据所述语言规则与所述产品及时序规则由测试模板库中确定待测试模板包括：根据所述产品及时序规则确定待测试芯片的资料库；以及根据所述语言规则与所述资料库由测试模板库中随机确定待测试模板。