[发明专利]评估光学模块的测试设备和方法有效
| 申请号： | 201811242497.2 | 申请日： | 2018-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN109708843B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 入江刚;荒川敬;高桥克征 | 申请（专利权）人： | 住友电工光电子器件创新株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 李铭;卢吉辉 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 能够同时评估两个或更多光学模块的测试设备，光学模块均处理多路复用属于彼此不同的波长的光学信号的波长多路复用信号。测试设备提供第一测试站和第二测试站。在选择所述波长中的一个之后，第一测试站执行属于所述波长中的一个波长且来自第一光学模块的光学信号的第一评估，且第二站同时执行具有波长中的一个的且来自第二光学模块的光学信号的第二评估。随后，第一测试站执行来自第二光学模块的光学信号的第一评估，而第二测试站执行来自第一光学模块的光学信号的第二评估。 | ||
| 搜索关键词： | 评估 光学 模块 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于评估第一光学模块和第二光学模块的测试设备，所述第一光学模块和所述第二光学模块处理波长多路复用信号，所述波长多路复用信号多路复用各自具有彼此不同的波长的光学信号，属于所述第一光学模块的波长和属于所述第二光学模块的波长实质上彼此相等，所述测试设备包括：第一测试站，其分别使用从所述第一光学模块输出的所述光学信号中的一个和从所述第二光学模块输出的所述光学信号中的另一个对所述第一光学模块和所述第二光学模块执行第一评估；第二测试站，其分别使用所述光学信号中的所述一个和所述光学信号中的所述另一个对所述第一光学模块和所述第二光学模块执行第二评估；以及控制器，其控制所述第一评估和所述第二评估的切换，以及其中，所述第一测试站和所述第二测试站在第一时间段中分别同时执行所述第一光学模块的所述第一评估和所述第二光学模块的所述第二评估，且在所述第一时间段之后的第二时间段期间，分别同时执行所述第一光学模块的所述第二评估和所述第二光学模块的所述第一评估，以及其中，关于各个波长，重复所述第一光学模块和所述第二光学模块的所述第一评估和所述第二评估。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于住友电工光电子器件创新株式会社，未经住友电工光电子器件创新株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811242497.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
