[发明专利]评估光学模块的测试设备和方法

说明书

能够同时评估两个或更多光学模块的测试设备，光学模块均处理多路复用属于彼此不同的波长的光学信号的波长多路复用信号。测试设备提供第一测试站和第二测试站。在选择所述波长中的一个之后，第一测试站执行属于所述波长中的一个波长且来自第一光学模块的光学信号的第一评估，且第二站同时执行具有波长中的一个的且来自第二光学模块的光学信号的第二评估。随后，第一测试站执行来自第二光学模块的光学信号的第一评估，而第二测试站执行来自第一光学模块的光学信号的第二评估。

相关申请交叉引用

本申请基于在2017年10月25日提交的日本专利申请No.2017-206163的优先权的权益并对其进行保护，其全部内容通过引用并入本文。

技术领域

本申请涉及用于评估光学模块的测试设备，具体地，涉及用于评估具有发送和接收波长多路复用信号的功能的光学模块的测试设备。

背景技术

有必要在发送信号之前使用测试设备对生成光学信号的光学发射器进行评估。日本专利特开No.JP2007-271590A已经公开了这种测试设备。在光学模块内实现的发光器件生成光学信号，测试设备通过该光学信号对光学模块进行评估。一种类型的光学模块具有处理波长多路复用信号的功能，即，发送和/或接收波长多路复用信号。测试设备有必要针对相应波长评估光学模块(如，针对相应波长重置测试功能)，这花费足够的节拍时间(tacttime)。

发明内容

本发明的一个方面涉及一种用于评估第一光学模块和第二光学模块的测试设备，该第一光学模块和第二光学模块均处理波长多路复用信号，该波长多路复用信号多路复用具有彼此不同的特定的波长的光学信号。属于所述第一光学模块的波长和属于所述第二光学模块的波长实质上彼此相等。本发明的测试设备包括：第一测试站、第二测试站和控制器。第一测试站分别使用从所述第一光学模块输出的所述光学信号中的一个和从所述第二光学模块输出的所述光学信号中的另一个执行对所述第一光学模块和第二光学模块的第一评估。第二测试站分别使用所述光学信号中的所述一个和所述光学信号中的所述另一个执行对所述第一光学模块和第二光学模块的第二评估。控制器控制所述第一评估和所述第二评估的切换。所述第一测试站和所述第二测试站在第一时间段中分别同时执行所述第一光学模块的所述第一评估和所述第二光学模块的所述第二评估，且在所述第一时间段之后的第二时间段期间，分别同时执行所述第一光学模块的所述第二评估和所述第二光学模块的所述第一评估。本发明的测试设备的特征在于，关于各个波长，重复所述第一光学模块和所述第二光学模块的所述第一评估和所述第二评估。

本发明的另一个方面涉及一种用于评估第一光学模块和第二光学模块的方法。第一光学模块和第二光学模块处理波长多路复用信号，波长多路复用信号多路复用均具有彼此不同的特定的波长的光学信号。本发明的方法包括以下步骤：(a)选择所述波长中的一个波长；(b)向第一测试站提供从所述第一光学模块输出的光学信号中的具有所述一个波长的一个光学信号，以及向第二测试站提供从所述第二光学模块输出的所述光学信号中的具有所述一个波长的另一个光学信号；(c)在第一时间段中，同时执行第一评估和第二评估：使用所述一个光学信号在所述第一测试站处执行所述第一光学模块的第一评估，并且使用所述另一个光学信号在所述第二测试站处执行所述第二光学模块的第二评估；(d)在所述第一时间段后的第二时间段中，同时执行第一评估和第二评估：使用所述另一个光学信号在所述第一测试站处执行所述第二光学模块的所述第一评估，并且使用所述一个光学信号在所述第二测试站处执行所述第一光学模块的所述第二评估；以及针对各个波长，重复步骤(a)至步骤(d)。

附图说明

将参考附图根据本发明的优选实施例的以下详细描述更好地理解前述和其他目的、方面以及优点，其中：

图1示出测试设备的功能框图；

图2A和图2B放大4选1选择器(4:1选择器)和2选2选择器(2:2选择器)，其中，2选2选择器分别处于平行配置和交叉配置；