[发明专利]评估光学模块的测试设备和方法有效

专利信息
申请号: 201811242497.2 申请日: 2018-10-24
公开(公告)号: CN109708843B 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 入江刚;荒川敬;高桥克征 申请(专利权)人: 住友电工光电子器件创新株式会社
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 李铭;卢吉辉
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 评估 光学 模块 测试 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种用于评估第一光学模块和第二光学模块的测试设备,所述第一光学模块和所述第二光学模块处理波长多路复用信号,所述波长多路复用信号多路复用各自具有彼此不同的波长的光学信号,属于所述第一光学模块的波长和属于所述第二光学模块的波长实质上彼此相等,所述测试设备包括:

第一测试站,其分别使用从所述第一光学模块输出的所述光学信号中的一个和从所述第二光学模块输出的所述光学信号中的另一个对所述第一光学模块和所述第二光学模块执行第一评估,所述第一测试站包括光学波形分析器;

第二测试站,其分别使用所述光学信号中的所述一个和所述光学信号中的所述另一个对所述第一光学模块和所述第二光学模块执行第二评估,所述第二测试站包括光谱仪、光学功率计和误差率检测器;以及

控制器,其控制所述第一评估和所述第二评估的切换,以及

其中,所述第一测试站和所述第二测试站在第一时间段中分别同时执行所述第一光学模块的所述第一评估和所述第二光学模块的所述第二评估,且在所述第一时间段之后的第二时间段期间,分别同时执行所述第一光学模块的所述第二评估和所述第二光学模块的所述第一评估,以及

其中,关于各个波长,重复所述第一光学模块和所述第二光学模块的所述第一评估和所述第二评估。

2.根据权利要求1所述的测试设备,还包括选择器,其提供输入端口和输出端口,所述输入端口分别接收从所述第一光学模块和所述第二光学模块中的一个输出的光学信号,所述输出端口与所述输入端口中的仅一个输入端口光学耦接,

其中,在各个波长中,所述控制器选择所述输入端口中的一个输入端口以与所述输出端口光学耦接。

3.根据权利要求1所述的测试设备,还包括2选2选择器,其提供两个输入端口和两个输出端口,所述两个输入端口分别与所述第一光学模块和所述第二光学模块光学耦接,所述两个输出端口分别与所述第一测试站和所述第二测试站耦接,

其中,在所述第一时间段,所述输入端口中与所述第一光学模块耦接的一个输入端口与所述输出端口中与所述第一测试站耦接的一个输出端口耦接,且所述输入端口中与所述第二光学模块耦接的另一个输入端口与所述输出端口中与所述第二测试站耦接的另一个输出端口耦接,以及

在所述第二时间段,所述输入端口中与所述第一光学模块耦接的所述一个输入端口与所述输出端口中与所述第二测试站耦接的所述另一个输出端口耦接,且所述输入端口中与所述第二光学模块耦接的所述另一个输入端口与所述输出端口中与所述第一测试站耦接的所述一个输出端口耦接。

4.根据权利要求2所述的测试设备,还包括2选2选择器,其提供两个输入端口和两个输出端口,所述两个输入端口分别与所述第一光学模块和所述第二光学模块光学耦接,所述两个输出端口分别与所述第一测试站和所述第二测试站耦接,

其中,在所述第一时间段,所述输入端口中与所述第一光学模块耦接的一个输入端口与所述输出端口中与所述第一测试站耦接的一个输出端口耦接,且所述输入端口中与所述第二光学模块耦接的另一个输入端口与所述输出端口中与所述第二测试站耦接的另一个输出端口耦接,以及

在所述第二时间段,所述输入端口中与所述第一光学模块耦接的所述一个输入端口与所述输出端口中与所述第二测试站耦接的所述另一个输出端口耦接,且所述输入端口中与所述第二光学模块耦接的所述另一个输入端口与所述输出端口中与所述第一测试站耦接的所述一个输出端口耦接。

5.根据权利要求1所述的测试设备,还包括第三测试站,

其中,所述第一光学模块和所述第二光学模块均提供接收器,所述接收器接收相应的波长多路复用信号,以及

其中,在所述第二时间段中,所述第三测试站评估所述第一光学模块中的接收器和所述第二光学模块中的接收器。

6.根据权利要求4所述的测试设备,还包括第三测试站,

其中,所述第一光学模块和所述第二光学模块均提供接收器,所述接收器接收相应的波长多路复用信号,以及

其中,在所述第二时间段中,所述第三测试站评估所述第一光学模块中的接收器和所述第二光学模块中的接收器。

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