[发明专利]再生弱光栅阵列的制备方法及系统有效

专利信息
申请号: 201811242313.2 申请日: 2018-10-24
公开(公告)号: CN109445018B 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 唐健冠;商福发;甘维兵;郭会勇;南秋明;刘芳;邓艳芳;杨明红 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: G02B6/02 分类号: G02B6/02
代理公司: 42102 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 代理人: 许美红
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种再生弱光栅阵列的制备方法及系统,其中方法包括以下步骤:将弱光栅阵列光纤在一定的压力环境下载氢,直到氢分子的完全渗入弱光栅阵列光纤中;所述弱光栅阵列光纤为反射率1%~2%的弱光栅阵列光纤;将高温炉升至光栅再生温度900℃~1000℃,并保持稳定;将载氢后的弱光栅阵列光纤快速插入高温炉的高温恒温区;观测光栅的反射谱,当出现稳定的反射峰时,得到再生光纤。本发明获得的高温传感阵列光栅高温性能良好,能实现低温至1000℃的超大范围温度测量,反射率一致性较高,易于解调系统检测,整个传感阵列无任何焊点,损耗低,制备过程全自动化,大大提高了制备的效率。
搜索关键词: 光栅阵列 光纤 光栅 制备 再生 传感阵列 反射率 高温炉 焊点 高温恒温 高温性能 解调系统 全自动化 温度测量 压力环境 制备过程 反射峰 反射谱 氢分子 下载 渗入 观测 检测
【主权项】:
1.一种再生弱光栅阵列的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:/n将弱光栅阵列光纤在一定的压力环境下载氢,直到氢分子的完全渗入弱光栅阵列光纤中;/n将高温炉升至光栅再生温度900℃~1000℃,并保持稳定;/n将载氢后的弱光栅阵列光纤快速插入高温炉的高温恒温区;/n观测光栅的反射谱,当出现稳定的反射峰时,得到再生光纤。/n
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