[发明专利]X射线分析装置以及X射线检测器的更换时期判定方法有效
| 申请号： | 201811238688.1 | 申请日： | 2018-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN109951940B | 公开（公告）日： | 2023-09-01 |
| 发明（设计）人： | 铃木桂次郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | H05G1/28 | 分类号： | H05G1/28 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种能够判定X射线检测器的恰当的更换时期的X射线分析装置以及X射线检测器的更换时期判定方法。本发明中，X射线管(1)朝试样(S)照射X射线。检测器(3)检测照射到试样(S)之后的X射线。检测器高压电路(4)对检测器(3)施加电压。数据获取部(81)根据来自检测器(3)的检测信号来获取具有试样(S)固有的波峰的波高分布曲线的数据。更换时期判定部(82)根据通过测定标准试样而由数据获取部(81)获取到的波高分布曲线的数据中包含的波峰来判定检测器(3)的更换时期。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 分析 装置 以及 检测器 更换 时期 判定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线分析装置，其特征在于，具备：X射线光源，其朝试样照射X射线；X射线检测器，其检测照射到试样之后的X射线；电压施加部，其对所述X射线检测器施加电压；数据获取部，其根据来自所述X射线检测器的检测信号来获取具有试样固有的波峰的波高分布曲线的数据；以及更换时期判定部，其根据通过测定标准试样而由所述数据获取部获取到的波高分布曲线的数据中包含的波峰，来判定所述X射线检测器的更换时期。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社岛津制作所，未经株式会社岛津制作所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811238688.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
