[发明专利]3D存储器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201811207913.5 申请日: 2018-10-17
公开(公告)号: CN109346479B 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 华文宇;刘藩东 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11582 分类号: H01L27/11582
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯;李向英
地址: 430074 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请公开了一种3D存储器件及其制造方法。该3D存储器件包括:半导体衬底;栅叠层结构,位于半导体衬底上,包括交替堆叠的多个栅极导体与多个层间绝缘层;以及多个沟道柱,贯穿栅叠层结构,并与半导体衬底电相连;3D存储器件还包括导电柱,贯穿栅叠层结构,与半导体衬底电相连,并分布在多个沟道柱之间,每个导电柱用于通过半导体衬底向周围的沟道柱供电。
搜索关键词: 存储 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种3D存储器件,包括:半导体衬底;栅叠层结构,位于所述半导体衬底上,包括交替堆叠的多个栅极导体与多个层间绝缘层;以及多个沟道柱,贯穿所述栅叠层结构,并与所述半导体衬底电相连;所述3D存储器件还包括多个导电柱,贯穿所述栅叠层结构,与所述半导体衬底电相连,并分布在所述多个沟道柱之间,每个所述导电柱用于通过所述半导体衬底向其周围的所述沟道柱供电。
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