[发明专利]一种自旋系综磁共振相位高带宽高精度检测方法有效
申请号: | 201811205947.0 | 申请日: | 2018-10-17 |
公开(公告)号: | CN111060860B | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 秦杰;汤恩琼;万双爱;孙晓光;刘建丰 | 申请(专利权)人: | 北京自动化控制设备研究所 |
主分类号: | G01R33/54 | 分类号: | G01R33/54 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 孙成林 |
地址: | 100074 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种自旋系综磁共振相位高带宽高精度检测方法,可以在确保磁共振信号检测精度的同时又具有较高的检测带宽。它包括如下步骤:(1)提取磁共振信号与激励信号的相位差信息;(2)消除磁共振信号与激励信号相位差信息中的倍频信号;(3)获取磁共振信号与激励信号的相位差。本发明的有益效果在于:本发明涉及的是量子传感器自旋系综磁共振信号的相位检测方法,具体地说在基于磁共振效应的量子传感器应用中采用本发明方法能够在确保磁共振信号检测精度的同时又具有较高的检测带宽。 | ||
搜索关键词: | 一种 自旋 磁共振 相位 带宽 高精度 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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