[发明专利]取样及保持电路在审

专利信息
申请号: 201811137682.5 申请日: 2018-09-28
公开(公告)号: CN109617542A 公开(公告)日: 2019-04-12
发明(设计)人: 庄嵋箴;艾伦·罗斯 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H03K17/22 分类号: H03K17/22;H03K17/24
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 康艳青;姚开丽
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 取样及保持(S/H)电路包括电容耦接到第一电压的取样节点和从输入携带信号的输入线。S/H电路还可以包括一个或多个晶体管,其将输入线耦接到取样节点。S/H电路还可以包括耦接到一个或多个晶体管的一个或多个源极或漏极的开关和第二电压。S/H电路还可以包括耦接到开关的保持电路和一个或多个晶体管的一个或多个栅极的保持电路,保持电路被配置成在取样期间打开输入和取样节点之间的输入线。
搜索关键词: 电路 取样节点 输入线 晶体管 取样 携带信号 电容 漏极 源极 配置
【主权项】:
1.一种取样及保持电路,其特征在于,包括:电容组件,将取样节点耦接到第一电压;两个晶体管,耦接输入线到所述取样节点;开关,耦接在所述两个晶体管中的第一个晶体管的源极和所述两个晶体管中的第二个晶体管的漏极之间,所述开关还耦接到第二电压;以及保持电路,耦接到所述开关和所述一个或多个晶体管的一个或多个栅极,所述保持电路配置成在取样期间断开所述输入和所述取样节点之间的所述输入线。
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