[发明专利]复合绝缘子气隙缺陷判别方法、检测方法、装置及存储介质有效

专利信息
申请号: 201811097089.2 申请日: 2018-09-20
公开(公告)号: CN109406443B 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 刘建军;张建国;周志成;陈大兵;李成钢;杨立恒;胡鹏;张晓琴;郭东亮;伍旺松;张中浩;梅红伟 申请(专利权)人: 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司;国网江苏省电力有限公司;清华大学深圳研究生院;江苏省电力试验研究院有限公司
主分类号: G01N21/3586 分类号: G01N21/3586
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 范青青;董建林
地址: 210000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种复合绝缘子气隙缺陷判别方法、检测方法、装置及存储介质,所述气隙缺陷判别方法包括:采集复合绝缘子的表面反射太赫兹回波和内部反射太赫兹回波;计算表面反射太赫兹回波与内部反射太赫兹回波的相位差;计算前一太赫兹波扫描点与当前太赫兹波扫描点所产生的内部反射太赫兹回波的幅值比;根据所述相位差、幅值比结合预设的气隙缺陷判别条件对所述复合绝缘子进行内部气隙缺陷判别。本发明提供的复合绝缘子气隙缺陷判别方法、检测方法、装置及存储介质,通过对复合绝缘子的太赫兹回波分析计算实现复合绝缘子内部气隙缺陷判别,能够精确的地识别内部气隙缺陷,有助于维护电网运行安全。
搜索关键词: 复合 绝缘子 缺陷 判别 方法 检测 装置 存储 介质
【主权项】:
1.复合绝缘子气隙缺陷判别方法,其特征在于,所述方法包括:采集复合绝缘子的表面反射太赫兹回波和内部反射太赫兹回波;计算表面反射太赫兹回波与内部反射太赫兹回波的相位差;计算前一太赫兹波扫描点与当前太赫兹波扫描点所产生的内部反射太赫兹回波的幅值比;根据所述相位差、幅值比结合预设的气隙缺陷判别条件对所述复合绝缘子进行内部气隙缺陷判别。
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